基于SPM系统的双探针实验研究

摘要	第1-5页
Abstract	第5-8页
第一章 绪论	第8-14页
·纳米科技的发展与应用	第8-9页
·扫描隧道显微镜的诞生	第9-11页
·原子力显微镜的发展	第11页
·扫描探针显微镜家族的壮大	第11-12页
·本文主要内容	第12-14页
第二章 扫描探针显微技术的理论与方法探讨	第14-26页
·扫描隧道显微技术	第14-17页
·原子力显微技术	第17-19页
·扫描力显微技术	第19-22页
·接触模式下的扫描力显微技术	第19-20页
·其他模式下的扫描力显微技术	第20-22页
·双探针SPM技术	第22-26页
第三章 针尖质量对扫描图像的影响	第26-35页
·STM系统对针尖的要求	第26-27页
·隧道电流与针尖关系的理论探讨	第27-28页
·判断针尖质量好坏的实验研究	第28-34页
·小结	第34-35页
第四章 双探针STM的实验研究	第35-51页
·双探针STM的设计思想及应用分析	第35-38页
·双探针STM的设计思想	第35-36页
·双探针STM的应用分析	第36-38页
·Solver P47多模式扫描探针显微镜	第38-42页
·带光源的光学显微镜及摄像机监视系统	第39页
·步进马达控制与探针扫描系统	第39页
·电子学控制系统	第39-41页
·计算机工作站及振动隔离系统	第41-42页
·双探针STM设计实验	第42-50页
·双探针对准控制技术	第42-46页
·双探针纳米隧道结的电学特性研究	第46-50页
·小结	第50-51页
第五章 总结与展望	第51-52页
参考文献	第52-55页
硕士期间发表的论文	第55-56页
致谢	第56页