BIT的设计准则和评估方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| ·问题的提出和研究意义 | 第8页 |
| ·发展与现状 | 第8-10页 |
| ·本文的研究内容和结构安排 | 第10-12页 |
| 第2章 数字电路故障分析以及故障建模 | 第12-34页 |
| ·概述 | 第12页 |
| ·电路故障的定义及成因 | 第12-13页 |
| ·电路故障的分类 | 第13-14页 |
| ·局部故障与全局故障 | 第13页 |
| ·硬件故障与软件故障 | 第13页 |
| ·暂时性故障与永久性故障 | 第13-14页 |
| ·单一故障与多故障 | 第14页 |
| ·电路故障建模的总体思想 | 第14-15页 |
| ·中央处理器(CPU)故障建模 | 第15-17页 |
| ·ROM故障建模 | 第17-18页 |
| ·ROM的结构 | 第17页 |
| ·ROM的故障模型 | 第17-18页 |
| ·RAM故障建模 | 第18-27页 |
| ·RAM的结构 | 第18-20页 |
| ·RAM的物理缺陷和故障表现形式 | 第20-22页 |
| ·RAM故障模型建立 | 第22-27页 |
| ·信号转换接口功能电路故障建模 | 第27-31页 |
| ·输入转换接口功能电路 | 第27-29页 |
| ·输出转换接口功能电路 | 第29-30页 |
| ·信号转换接口组合功能的故障建模 | 第30-31页 |
| ·通讯接口功能电路故障建模 | 第31页 |
| ·电源功能电路故障建模 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-34页 |
| 第3章 数字电路的 BIT设计 | 第34-50页 |
| ·BIT设计准则 | 第34-38页 |
| ·测试性设计对 BIT设计的基本要求 | 第34-35页 |
| ·测试性设计对 BIT软件设计要求 | 第35页 |
| ·减少虚警的 BIT设计要求 | 第35-36页 |
| ·BIT设计中测试点的选取 | 第36-38页 |
| ·本文 BIT设计思想 | 第38页 |
| ·数字电路典型功能模块的测试方法 | 第38-49页 |
| ·CPU的测试方法 | 第38-41页 |
| ·ROM的测试方法 | 第41页 |
| ·RAM的测试方法 | 第41-47页 |
| ·A/D、D/A转换接口功能电路的测试方法 | 第47-49页 |
| ·通讯接口功能电路的测试方法 | 第49页 |
| ·电源功能电路的测试方法 | 第49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第4章 基于大气数据计算机的 BIT仿真 | 第50-68页 |
| ·本文的验证思想 | 第50-51页 |
| ·软件仿真的实现 | 第51-60页 |
| ·测试软件的总体设计 | 第51页 |
| ·程序实现及流程 | 第51-58页 |
| ·测试软件的界面 | 第58-59页 |
| ·测试软件仿真结果 | 第59-60页 |
| ·硬件电路的实现 | 第60-65页 |
| ·频率量输入处理电路 | 第60-61页 |
| ·模拟量输入处理电路 | 第61-62页 |
| ·开关量输入处理电路 | 第62页 |
| ·开关量输出 | 第62-63页 |
| ·电源功能电路的测试方法仿真 | 第63-65页 |
| ·试验结果及分析 | 第65-66页 |
| ·小结 | 第66-68页 |
| 第5章 BIT的评估方法研究 | 第68-80页 |
| ·系统测试性的验证 | 第68-70页 |
| ·测试性验证理论 | 第68-69页 |
| ·测试系统的检验 | 第69-70页 |
| ·BIT对系统可靠性的影响 | 第70-75页 |
| ·λ_B和λ_(FA)对 MTBF的影响 | 第70-71页 |
| ·FDR和 FAR对 MTBF的影响 | 第71-73页 |
| ·FAR与λ_S的关系 | 第73-75页 |
| ·BIT对系统维修性的影响 | 第75-78页 |
| ·维修性的定义 | 第75-76页 |
| ·BIT对系统维修性的影响分析 | 第76-78页 |
| ·小结 | 第78-80页 |
| 第6章 总结与展望 | 第80-82页 |
| ·论文工作总结 | 第80页 |
| ·论文工作展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 论文发表情况 | 第86-88页 |
| 致谢 | 第88-89页 |
