相移干涉微表面形貌检测仪的数据处理与实验研究
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-8页 |
第一章 绪论 | 第8-19页 |
·微表面形貌检测的测量方法 | 第8-11页 |
·微表面形貌检测的非光学测量方法 | 第8-9页 |
·微表面形貌检测的光学测量方法 | 第9-11页 |
·干涉法测量中的相位测量方法 | 第11-14页 |
·时间相移法 | 第12-13页 |
·空间相移法 | 第13-14页 |
·国外形貌检测仪的发展现状 | 第14-15页 |
·光学干涉法表面形貌测量的研究热点和方向 | 第15-17页 |
·测量对象的扩展 | 第16页 |
·深度测量范围的扩展 | 第16-17页 |
·本文的主要研究工作与各章主要内容 | 第17-19页 |
第二章 相移干涉仪整体结构 | 第19-28页 |
·相移干涉仪的总体结构 | 第19页 |
·相移干涉仪的光学系统 | 第19-24页 |
·光学干涉成像部分 | 第20-21页 |
·光源及照明部分 | 第21-24页 |
·相移干涉仪的微位移控制系统 | 第24-27页 |
·相移干涉仪的图像采集系统 | 第27页 |
·图像传感器CCD | 第27页 |
·图像采集卡 | 第27页 |
·本章小结 | 第27-28页 |
第三章 干涉图像的改善与预处理 | 第28-40页 |
·在实验条件下的各种误差 | 第28-29页 |
·对干涉图像质量的实验改善 | 第29-33页 |
·光路均衡性的改善 | 第29-30页 |
·光源的选择 | 第30-33页 |
·对干涉图的去噪处理 | 第33-39页 |
·图像去噪的方法 | 第33-36页 |
·去噪结果对比 | 第36-37页 |
·本文提出的去除大灰尘点的方法 | 第37-39页 |
·本章小结 | 第39-40页 |
第四章 相位提取算法研究 | 第40-57页 |
·相移干涉法的基本原理 | 第40-42页 |
·传统相位提取算法 | 第42-43页 |
·传统相位提取算法精度分析 | 第43-46页 |
·相移器线性误差 | 第43-44页 |
·探测器二次非线性相应 | 第44-45页 |
·光强信号的非正弦性 | 第45-46页 |
·改进相位提取算法 | 第46-48页 |
·线性相移误差不敏感四步算法 | 第46-47页 |
·光强信号二次谐波效应不敏感六步算法 | 第47-48页 |
·不同相位提取算法之间的比较 | 第48-56页 |
·对光纤连接器端面的处理结果对比 | 第48-54页 |
·对标准台阶面的处理结果的对比 | 第54-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第五章 相位解包裹算法研究 | 第57-73页 |
·相位解包裹原理 | 第57-58页 |
·相位解包裹的理想算法与噪声相位解包裹 | 第58-60页 |
·路径跟踪解包裹算法 | 第60-65页 |
·基于相位参考阈值的相位解包裹算法 | 第60-61页 |
·基于一维离散余弦变换的相位解包裹算法 | 第61-62页 |
·基于插值拟合的去除解包裹图拉线的算法 | 第62-65页 |
·路径无关解包裹算法 | 第65-67页 |
·相位解包裹算法实验效果对比 | 第67-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
第六章 实验及测量精度分析 | 第73-94页 |
·粗糙度样板的测量 | 第73-80页 |
·最小二乘中线 | 第73-74页 |
·轮廓算数平均偏差 | 第74页 |
·取样长度 | 第74页 |
·粗糙度的测量步骤及软件流程图 | 第74-75页 |
·实验结果 | 第75-80页 |
·光纤连接器端面的测量 | 第80-87页 |
·光纤连接器的物理参数 | 第80-81页 |
·光纤连接器参数的测量原理 | 第81-83页 |
·测量流程及软件界面 | 第83-86页 |
·实验结果 | 第86-87页 |
·标准台阶的测量 | 第87-91页 |
·被测面倾斜的软件调平 | 第87-88页 |
·台阶高度测量的软件界面 | 第88页 |
·实验结果 | 第88-91页 |
·对比实验 | 第91-93页 |
·本章小结 | 第93-94页 |
第七章 总结与展望 | 第94-96页 |
论文完成的主要工作 | 第94页 |
工作展望与计划 | 第94-96页 |
参考文献 | 第96-101页 |
攻读硕士学位期间的科研成果与发表的学术论文 | 第101-102页 |
致谢 | 第102页 |