| 第1章 绪论 | 第1-18页 |
| ·选题意义 | 第7-8页 |
| ·钛及钛合金的连接性概述 | 第8-9页 |
| ·铜及铜合金的连接性概述 | 第9-10页 |
| ·钛合金——铜合金的连接性分析 | 第10-13页 |
| ·钛合金——铜合金连接技术的研究现状 | 第13-16页 |
| ·本文主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第2章 试验材料、设备及方法 | 第18-25页 |
| ·试验材料与试件规格 | 第18-20页 |
| ·试验设备 | 第20页 |
| ·试验过程 | 第20-22页 |
| ·接头力学性能测试 | 第22-23页 |
| ·接头界面元素扩散及显微组织分析 | 第23-24页 |
| ·接头显微硬度测定 | 第24-25页 |
| 第3章 Ti-6Al-4V与QAl10-3-1.5直接扩散连接研究 | 第25-38页 |
| ·前言 | 第25页 |
| ·工艺参数对接头性能的影响 | 第25-32页 |
| ·连接温度(T)对接头性能的影响 | 第26-29页 |
| ·连接时间(t)对接头性能的影响 | 第29-32页 |
| ·接头界面元素扩散情况及反应产物分析 | 第32-36页 |
| ·接头界面元素扩散情况 | 第32-34页 |
| ·接头界面反应产物分析 | 第34-36页 |
| ·接头显微硬度分析 | 第36页 |
| ·本章小结 | 第36-38页 |
| 第4章 采用单一中间层的Ti-6Al-4V与QAl10-3-1.5 扩散连接研究 | 第38-60页 |
| ·前言 | 第38-39页 |
| ·Ti-6Al-4V/Cu/QAl10-3-1.5 扩散连接研究 | 第39-47页 |
| ·连接温度(T)对接头性能的影响 | 第39-42页 |
| ·连接时间(t)对接头性能的影响 | 第42-45页 |
| ·接头界面元素扩散情况及反应产物分析 | 第45-47页 |
| ·Ti-6Al-4V /Ni/QAl10-3-1.5 扩散连接研究 | 第47-57页 |
| ·连接温度(T)对接头性能的影响 | 第48-51页 |
| ·连接时间(t)对接头性能的影响 | 第51-53页 |
| ·接头界面元素扩情况及反应产物分析 | 第53-57页 |
| ·采用其他中间层的扩散连接 | 第57-59页 |
| ·Ta 作中间层的扩散连接 | 第57-58页 |
| ·Ag 作中间层的扩散连接 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第5章 采用Ni/Cu复合中间层的 Ti-6Al-4V与 QAl10-3-1.5扩散连接研究 | 第60-70页 |
| ·前言 | 第60页 |
| ·连接温度(T)对接头性能的影响 | 第60-63页 |
| ·连接时间(t)对接头性能的影响 | 第63-65页 |
| ·接头界面元素扩情况及反应产物分析 | 第65-68页 |
| ·接头界面元素扩散情况 | 第66-67页 |
| ·接头界面反应产物分析 | 第67-68页 |
| ·接头显微硬度分析 | 第68页 |
| ·本章小结 | 第68-70页 |
| 第六章 结论 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 摘要 | 第76-78页 |
| ABSTRAST | 第78-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 在学期间科研成果 | 第82页 |
