| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 目录 | 第4-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-10页 |
| §1.1 课题背景及意义 | 第6-8页 |
| §1.1.1 课题背景 | 第6-7页 |
| §1.1.2 光电探测器特性一体化实验系统的特点及开发意义 | 第7-8页 |
| §1.2 本论文的研究工作 | 第8-9页 |
| 参考文献 | 第9-10页 |
| 第二章 光电探测器特性一体化实验系统的构成与原理 | 第10-42页 |
| §2.1 光电探测器基本原理 | 第10-23页 |
| §2.1.1 光电倍增管 | 第10-14页 |
| §2.1.2 光敏电阻 | 第14-16页 |
| §2.1.3 硅光电池 | 第16-17页 |
| §2.1.4 硅光电二极管 | 第17-19页 |
| §2.1.5 硅光电三极管(光电晶体管) | 第19-20页 |
| §2.1.6 雪崩光电二极管 | 第20-23页 |
| §2.2 测试原理 | 第23-29页 |
| §2.2.1 光谱响应度测试原理 | 第23-24页 |
| §2.2.2 光电倍增管特性测试 | 第24-25页 |
| §2.2.3 雪崩光电二极管特性测试 | 第25-27页 |
| §2.2.4 暗电流测试 | 第27页 |
| §2.2.5 光电器件与集成运算放大器的连接 | 第27-29页 |
| §2.3 光栅单色仪 | 第29-41页 |
| §2.3.1 光栅单色仪原理 | 第29-33页 |
| §2.3.2 光栅单色仪重要参数 | 第33-34页 |
| §2.3.3 单色仪的波长扫描机构 | 第34-39页 |
| §2.3.4 单色仪的波长扫描控制原理 | 第39-41页 |
| 参考文献 | 第41-42页 |
| 第三章 系统总体设计 | 第42-46页 |
| §3.1 系统总体设计 | 第42-43页 |
| §3.2 光学系统及机械结构设计 | 第43-45页 |
| 参考文献 | 第45-46页 |
| 第四章 系统硬件电路设计 | 第46-58页 |
| §4.1 光电探测器的信号输出电路 | 第46-48页 |
| §4.2 数据采样及AD转换 | 第48-49页 |
| §4.3 步进电机运转与位置控制 | 第49-53页 |
| §4.3.1 步进电机的驱动电路 | 第50-51页 |
| §4.3.2 工作位置的确定 | 第51-53页 |
| §4.4 单片机与PC机的通信 | 第53-55页 |
| §4.5 单片机系统资源分配情况一览 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-58页 |
| 第五章 系统软件设计 | 第58-71页 |
| §5.1 单片机现场控制子系统 | 第59-63页 |
| §5.1.1 电机运转控制 | 第60-61页 |
| §5.1.2 数据采集和简单加工 | 第61-63页 |
| §5.2 单片机与PC机的串行通信 | 第63-68页 |
| §5.2.1 数据采集和简单加工 | 第64-65页 |
| §5.2.2 PC方的数据接收 | 第65-68页 |
| §5.3 PC机主控程序 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-71页 |
| 第六章 测量的实施及实验结果 | 第71-78页 |
| §6.1 光谱响应度的测试 | 第72-74页 |
| §6.2 光电倍增管的特性测试 | 第74-75页 |
| §6.3 APD特性测试 | 第75-76页 |
| §6.4 暗电流测试 | 第76页 |
| §6.5 测试总结 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-78页 |
| 第七章 总结与展望 | 第78-81页 |
| §7.1 本论文完成的主要工作 | 第78页 |
| §7.2 本课题今后的研究方向 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81页 |