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LHCb外部径迹室高压板测试系统的开发

第1章 引言第1-13页
   ·背景介绍第7-11页
   ·课题任务第11-13页
第2章 高压电路原型板的测试第13-20页
   ·实验设置第14-15页
   ·实验结果第15-18页
   ·小结第18-20页
第3章 高压电路板自动测试系统的研制第20-34页
   ·高压电路板自动测试系统整体框图第20-22页
   ·接口模块第22-24页
   ·测试模块第24-27页
   ·控制模块第27-31页
   ·背板模块第31-32页
   ·PC 及控制软件第32-33页
   ·高压控制模块第33页
   ·低压电源第33-34页
第4章 系统性能验证第34-51页
   ·电流测量第34-40页
     ·电流电压转换公式第34-36页
     ·电流测量值的偏差第36-37页
     ·电流测量精度第37-38页
     ·反应时间和测量速度第38-40页
     ·温度影响第40页
   ·电容测量第40-50页
     ·时间电容值转换第41-49页
     ·电容测量的偏差第49页
     ·电容测量精度第49页
     ·电容测量速度第49-50页
     ·温度影响第50页
   ·结论及系统校准策略第50-51页
第5章 项目进度和余下的工作第51-52页
参考文献第52-53页
致谢与声明第53-54页
个人简历、在学期间发表的学术论文第54-55页
附录A SYSTEM DESCRIPTION OF THE HV_BOARD TESTER第55-69页
附录B EXPERIMENTS ON THE PROTOTYPE OF THE HV_BOARD TESTER第69-86页
附录C 接口板原理图第86-87页
附录D 测试板原理图第87-88页
附录E 控制板原理图第88-89页
附录F 背板原理图第89页

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