用于万能工具显微镜的图像处理技术研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第1章 绪论 | 第9-18页 |
·课题研究的目的和意义 | 第9-10页 |
·国内外研究现状 | 第10-17页 |
·尺寸检测技术现状 | 第10-12页 |
·CCD技术现状 | 第12-13页 |
·图像测量技术现状 | 第13-14页 |
·数字图像处理技术现状 | 第14-17页 |
·本文研究的内容 | 第17-18页 |
第2章 系统的组成与工作原理 | 第18-25页 |
·系统组成 | 第18页 |
·光学系统 | 第18-21页 |
·照明系统的选择 | 第19-20页 |
·透镜成像系统 | 第20-21页 |
·图像采集系统 | 第21-24页 |
·CCD摄像机的特性参数及选择 | 第21-22页 |
·DH-CG400图像采集卡简介 | 第22-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第3章 系统数学模型 | 第25-32页 |
·系统数学模型 | 第25-31页 |
·标尺读数系统数学模型 | 第25-28页 |
·物体对准系统数学模型 | 第28-31页 |
·系统参数设计 | 第31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第4章 数字图像处理 | 第32-54页 |
·图像滤波 | 第32-35页 |
·方法选择 | 第32页 |
·中值滤波 | 第32-34页 |
·中值滤波实验结果 | 第34-35页 |
·边缘提取 | 第35-37页 |
·方法选择 | 第35-36页 |
·Roberts算子 | 第36-37页 |
·边缘提取实验结果 | 第37页 |
·亚像素细分 | 第37-52页 |
·亚像素简介 | 第39-41页 |
·几种常见的亚像素定位技术 | 第41-43页 |
·亚像素定位原理及选用条件 | 第43-45页 |
·矩方法 | 第45-52页 |
·亚像素细分实验结果 | 第52页 |
·本章小结 | 第52-54页 |
第5章 系统误差分析 | 第54-61页 |
·引言 | 第54页 |
·误差分析 | 第54-60页 |
·标尺读数系统误差分析 | 第54-57页 |
·物体对准系统误差分析 | 第57-59页 |
·其它误差 | 第59-60页 |
·误差限定 | 第60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
结论 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-66页 |
在攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第66-67页 |
致谢 | 第67页 |