红外焦平面阵列整机性能评估技术
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 1 绪论 | 第6-10页 |
| ·傅里叶方法与成像系统的分析 | 第6-7页 |
| ·傅里叶方法与热成像系统的分析 | 第7-8页 |
| ·傅里叶方法与光电探测器 | 第8-9页 |
| ·本文研究工作的概述 | 第9-10页 |
| 2 红外焦平面阵列 | 第10-17页 |
| ·红外焦平面阵列的现状 | 第10-14页 |
| ·超高集成度的焦平面探测器像元 | 第10-12页 |
| ·高性能 | 第12-13页 |
| ·高密度小像元尺寸 | 第13页 |
| ·多色工作 | 第13-14页 |
| ·红外焦平面阵列的发展前景 | 第14-15页 |
| ·红外焦平面阵列技术的应用 | 第15-17页 |
| 3 红外焦平面阵列调制传递函数测试方法研究 | 第17-29页 |
| ·MTF推广到红外焦平面阵列中的背景 | 第17-22页 |
| ·常用红外焦平面阵列的性能评定参数 | 第17-19页 |
| ·调制传递函数在光学器件中的提出和发展 | 第19-20页 |
| ·调制传递函数在焦平面阵列中的推广 | 第20-21页 |
| ·红外焦平面阵列调制传递函数的测试现状 | 第21-22页 |
| ·MTF测试技术目前状况 | 第21-22页 |
| ·MTF测试技术发展方向 | 第22页 |
| ·红外焦平面阵列调制传递函数已存在的测试方法 | 第22-29页 |
| ·狭缝测试法 | 第24-25页 |
| ·最值法 | 第25-26页 |
| ·刀口法 | 第26-27页 |
| ·小点法 | 第27-29页 |
| 4 红外焦平面阵列整机性能技术研究 | 第29-39页 |
| ·32元CMT热像仪主要性能指标 | 第29页 |
| ·高性能TRFPA整机性能予估--微扫意义 | 第29-31页 |
| ·微扫描改编研究 | 第31-34页 |
| ·现行结构下焦平面阵列积分抽样分析 | 第32-34页 |
| ·空间抽样效应评估 | 第34-39页 |
| ·凝视焦平面积分抽样的完整理论描述 | 第34-35页 |
| ·中心布里渊区的真假频混淆效应 | 第35页 |
| ·微位移引发的相位移因子 | 第35-36页 |
| ·参与混淆效应的真假频谐波的模与空间频率的关系 | 第36-37页 |
| ·对于=0.51x情况的讨论 | 第37-38页 |
| ·微扫技术 | 第37页 |
| ·测试技术 | 第37-38页 |
| ·异频相位差异因子 | 第38-39页 |
| 5 微位移法测量MTF的测试系统和方法研究 | 第39-46页 |
| ·测试光路安排与设计 | 第39-41页 |
| ·红外焦平面信噪比实验结果分析 | 第41-42页 |
| ·红外焦平面信噪比实验结果分析 | 第42-46页 |
| 6 结束语 | 第46-47页 |
| 致谢 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-49页 |