EMC暗室性能测试技术的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| CONTENTS | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题研究背景 | 第10页 |
| ·电磁兼容性测试场地 | 第10-15页 |
| ·开阔试验场(OATS) | 第11-12页 |
| ·屏蔽室 | 第12页 |
| ·电波暗室 | 第12-14页 |
| ·横电磁波室 | 第14页 |
| ·混响室 | 第14-15页 |
| ·暗室性能测试指标 | 第15-16页 |
| ·本论文的结构安排 | 第16-17页 |
| 第二章 暗室性能测试方法 | 第17-31页 |
| ·电波暗室介绍 | 第17-20页 |
| ·电波暗室分类 | 第17-18页 |
| ·暗室中的吸波材料 | 第18-20页 |
| ·屏蔽效能SE | 第20-22页 |
| ·测试原理 | 第20-21页 |
| ·测试方法 | 第21-22页 |
| ·归一化场地衰减NSA | 第22-24页 |
| ·测试原理 | 第22-23页 |
| ·测试方法 | 第23-24页 |
| ·场地电压驻波比SVSWR | 第24-26页 |
| ·测试原理 | 第24-25页 |
| ·测试方法 | 第25-26页 |
| ·场均匀性测试FU | 第26-31页 |
| ·测试原理 | 第26-28页 |
| ·测试方法 | 第28-29页 |
| ·小窗法 | 第29-31页 |
| 第三章 测试系统的软件设计与实现 | 第31-37页 |
| ·开发软件与开发平台 | 第31页 |
| ·研发需求及软件开发目的 | 第31-32页 |
| ·软件结构设计 | 第32-35页 |
| ·软件特点 | 第35-37页 |
| 第四章 暗室性能测试系统 | 第37-51页 |
| ·自动测试系统介绍 | 第37-41页 |
| ·测试目的 | 第38-39页 |
| ·测试所用天线 | 第39-41页 |
| ·测试用仪器 | 第41页 |
| ·FU测试中恒定场强法测试系统分析 | 第41-48页 |
| ·测试参数设置 | 第41-43页 |
| ·自动校准测试过程 | 第43-45页 |
| ·测试系统数据处理 | 第45-48页 |
| ·小窗法测试结果分析 | 第48-51页 |
| 结论与展望 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58页 |
