合成孔径声纳聚焦成像算法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 引言 | 第9-13页 |
| ·研究背景及意义 | 第9-10页 |
| ·合成孔径声纳发展历史及国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·本文研究工作及内容安排 | 第12-13页 |
| 第2章 合成孔径声纳成像原理 | 第13-25页 |
| ·SAS成像基本原理 | 第13-15页 |
| ·线性调频信号及脉冲压缩 | 第15-19页 |
| ·线性调频信号 | 第15-17页 |
| ·匹配滤波器技术 | 第17-19页 |
| ·SAS回波信号模型 | 第19-23页 |
| ·SAS存在的问题 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 合成孔径声纳成像算法 | 第25-46页 |
| ·距离徙动 | 第25-27页 |
| ·距离多普勒算法 | 第27-37页 |
| ·原始的正侧视距离-多普勒算法 | 第28-31页 |
| ·校正线性距离走动的距离-多普勒算法 | 第31-33页 |
| ·频域校正距离走动和弯曲的距离-多普勒算法 | 第33-37页 |
| ·线性调频变标算法 | 第37-40页 |
| ·距离徙动算法(RMA) | 第40-43页 |
| ·距离直接采样形式的RMA算法 | 第40-42页 |
| ·距离DECHIRP形式RMA算法 | 第42-43页 |
| ·算法性能比较 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 旁瓣抑制技术 | 第46-59页 |
| ·传统窗函数加权 | 第46-49页 |
| ·变迹法原理 | 第49-51页 |
| ·双重变迹法(DA) | 第49页 |
| ·复数双重变迹法 | 第49-51页 |
| ·空间变迹法 | 第51-54页 |
| ·非标准NYQUIST采样下的推广改进 | 第54-56页 |
| ·整数Nyquist | 第54-56页 |
| ·非整数Nyquist | 第56页 |
| ·一维距离向仿真结果分析 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 SAS成像的旁瓣抑制 | 第59-68页 |
| ·SVA二维成像处理 | 第59-62页 |
| ·利用迭代外推法对SVA的改进 | 第62-64页 |
| ·数字仿真结果及分析 | 第64-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第6章 结论 | 第68-71页 |
| ·本文工作总结 | 第68-69页 |
| ·工作展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 作者攻读硕士学位期间的研究成果 | 第75页 |
