| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-11页 |
| 目录 | 第11-13页 |
| 第一章 引言 | 第13-30页 |
| ·有机半导体的研究进展 | 第13-18页 |
| ·有机半导体研究的意义 | 第13-15页 |
| ·有机半导体发展概述 | 第15-18页 |
| ·有机小分子perylene和FePc研究背景 | 第18-20页 |
| ·实验室先前工作的回顾 | 第20-22页 |
| ·硅表面研究背景 | 第22-25页 |
| ·Si(001)面上的(2×1)重构 | 第22页 |
| ·Si(110)面上的(16×2)重构 | 第22-24页 |
| ·Si(111)面上的(7×7)重构 | 第24-25页 |
| ·本论文的研究工作 | 第25-26页 |
| 参考文献 | 第26-30页 |
| 第二章 实验原理及设备 | 第30-42页 |
| ·实验设备 | 第30-33页 |
| ·X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy—XPS) | 第33-34页 |
| ·紫外光电子能谱(Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy—UPS) | 第34-36页 |
| ·光电子能谱实验中的守恒量、光离截面公式以及选择定则 | 第36-40页 |
| 参考文献 | 第40-42页 |
| 第三章 计算原理 | 第42-59页 |
| ·密度泛函理论(DFT) | 第42-46页 |
| ·局域密度近似(LDA)和广义梯度近似(GGA) | 第46-53页 |
| ·LDA+U近似方法 | 第47-49页 |
| ·广义梯度近似(GGA) | 第49-53页 |
| ·软件介绍 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 第四章 Perylene在Si(001)2×1表面上吸附的电子态研究 | 第59-78页 |
| ·研究背景 | 第59-60页 |
| ·实验条件以及计算参数 | 第60-61页 |
| ·结果与讨论 | 第61-74页 |
| ·小结 | 第74页 |
| ·不足与展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 第五章 FePc在Si(110)表面上吸附的电子态研究 | 第78-112页 |
| ·酞菁类化合物的研究背景 | 第78-81页 |
| ·实验和计算 | 第81-89页 |
| ·实验设备和样品操作 | 第81-82页 |
| ·XPS的实验设备和操作 | 第82-88页 |
| ·实验细节 | 第82-83页 |
| ·基于XPS谱图的有机分子覆盖度标定 | 第83-88页 |
| ·UPS的实验设备和操作 | 第88页 |
| ·DFT计算细节 | 第88-89页 |
| ·结果和讨论 | 第89-105页 |
| ·小结 | 第105-108页 |
| 参考文献 | 第108-112页 |
| 结论和展望 | 第112-114页 |
| 攻读博士学位期间发表论文 | 第114-115页 |
| 致谢 | 第115页 |
