低功耗高性能采样保持电路的研究与设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-14页 |
| ·课题意义 | 第10-11页 |
| ·采样/保持电路的研究和发展现状 | 第11-13页 |
| ·论文架构 | 第13-14页 |
| 第二章 采样/保持基本理论 | 第14-24页 |
| ·采样/保持电路的工作原理 | 第14-15页 |
| ·采样/保持电路的基本性能指标 | 第15-18页 |
| ·采样/保持电路的时域指标 | 第15-16页 |
| ·采样/保持电路的频域指标 | 第16-18页 |
| ·采样/保持信号的时域和频域分析 | 第18-20页 |
| ·采样/保持电路的基本结构 | 第20-24页 |
| ·开环结构 | 第21页 |
| ·闭环结构 | 第21-24页 |
| 第三章 采样/保持电路的单元电路 | 第24-44页 |
| ·采样开关 | 第24-38页 |
| ·MOS 开关简化模型 | 第24-25页 |
| ·采样开关的非理想因素 | 第25-32页 |
| ·输入电压相关的关断瞬间 | 第25-26页 |
| ·电荷注入效应 | 第26-29页 |
| ·开关时钟馈通效应 | 第29-30页 |
| ·开关电阻的非线性 | 第30页 |
| ·开关热噪声 | 第30-31页 |
| ·时钟抖动 | 第31-32页 |
| ·改进的采样开关 | 第32-38页 |
| ·互补CMOS 开关 | 第32-33页 |
| ·改进的互补CMOS 开关 | 第33-34页 |
| ·栅压提高采样开关 | 第34页 |
| ·栅压自举采样开关 | 第34-36页 |
| ·双边栅压自举采样开关 | 第36-38页 |
| ·运算放大器 | 第38-42页 |
| ·单级运算放大器 | 第38页 |
| ·套筒式运算放大器 | 第38-39页 |
| ·折叠式运算放大器 | 第39-40页 |
| ·增益增强型运算放大器 | 第40-41页 |
| ·两级运算放大器 | 第41-42页 |
| ·采样电容与负载电容 | 第42-44页 |
| 第四章 采样/保持电路的数学模型 | 第44-56页 |
| ·采样相建模 | 第44-49页 |
| ·采用单个MOS 开关采样 | 第44-47页 |
| ·采用栅压自举开关采样 | 第47-49页 |
| ·保持相建模 | 第49-56页 |
| ·翻转工作区建模 | 第49-50页 |
| ·线性工作区建模 | 第50-55页 |
| ·采样/保持电路总的信号建立时间数学模型 | 第55-56页 |
| 第五章 采样/保持电路的设计与仿真 | 第56-69页 |
| ·结构与时序 | 第56-58页 |
| ·采样开关 | 第58-59页 |
| ·运算放大器 | 第59-64页 |
| ·运算放大器工作电流的估计 | 第60-61页 |
| ·主运算放大器的设计 | 第61-62页 |
| ·辅助运算放大器的设计 | 第62-63页 |
| ·运算放大器的仿真 | 第63-64页 |
| ·共模反馈电路 | 第64-65页 |
| ·偏置电路 | 第65-66页 |
| ·采样/保持电路的整体仿真 | 第66-69页 |
| 第六章 版图设计 | 第69-76页 |
| ·版图设计考虑 | 第69-72页 |
| ·分裂大尺寸器件 | 第69页 |
| ·噪声考虑 | 第69页 |
| ·匹配问题 | 第69-71页 |
| ·闩锁效应 | 第71-72页 |
| ·采样/保持电路的版图设计 | 第72-76页 |
| 第七章 结论与展望 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 攻硕期间的研究成果 | 第83-84页 |