基于有源硅像素探测器的高能粒子束流望远镜研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-30页 |
| 1.1 束流望远镜 | 第10-21页 |
| 1.1.1 粒子加速器实验束与束流望远镜 | 第10-11页 |
| 1.1.2 束流望远镜的主要参数 | 第11-12页 |
| 1.1.3 束流望远镜的发展历程 | 第12-16页 |
| 1.1.4 硅像素束流望远镜 | 第16-21页 |
| 1.2 DESY束流望远镜升级项目 | 第21-24页 |
| 1.2.1 DESY实验束简介 | 第21-22页 |
| 1.2.2 DESY束流望远镜升级需求 | 第22-24页 |
| 1.3 本论文研究内容及结构安排 | 第24-26页 |
| 参考文献 | 第26-30页 |
| 第2章 单片有源硅像素探测器 | 第30-54页 |
| 2.1 硅探测器工作原理 | 第30-32页 |
| 2.2 单片有源硅像素探测器 | 第32-38页 |
| 2.2.1 工作原理 | 第32-34页 |
| 2.2.2 主要技术参数 | 第34-37页 |
| 2.2.3 读出方式 | 第37-38页 |
| 2.3 典型的MAPS器件 | 第38-48页 |
| 2.3.1 MIMOSA系列芯片 | 第38-42页 |
| 2.3.2 ALPIDE | 第42-47页 |
| 2.3.3 结合望远镜升级需求的讨论 | 第47-48页 |
| 2.4 本章小结 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 第3章 基于ALPIDE的束流望远镜系统设计方案 | 第54-70页 |
| 3.1 EUDET束流望远镜调研 | 第54-58页 |
| 3.2 径迹重建调研 | 第58-61页 |
| 3.3 ALPIDE束流望远镜系统设计方案 | 第61-67页 |
| 3.3.1 径迹分辨率设计需求分析与仿真 | 第61-64页 |
| 3.3.2 系统设计方案 | 第64-67页 |
| 3.4 本章小结 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 第4章 原型系统设计与实现 | 第70-112页 |
| 4.1 ALPIDE接口与配置介绍 | 第70-77页 |
| 4.1.1 探测器接口 | 第70-75页 |
| 4.1.2 主要工作参数 | 第75-76页 |
| 4.1.3 芯片激励自检功能 | 第76-77页 |
| 4.2 ALPIDE验证电路设计 | 第77-93页 |
| 4.2.1 ALPIDE绑定板 | 第78-82页 |
| 4.2.2 数据接口板 | 第82-89页 |
| 4.2.3 系统实现 | 第89-93页 |
| 4.3 ALPIDE验证电路测试 | 第93-102页 |
| 4.3.1 基础功能测试 | 第93-94页 |
| 4.3.2 阈值和误击中率扫描 | 第94-96页 |
| 4.3.3 放射源与X光机测试 | 第96-99页 |
| 4.3.4 激光测试 | 第99-101页 |
| 4.3.5 测试小结 | 第101-102页 |
| 4.4 束流望远镜原型系统设计与实验室测试 | 第102-109页 |
| 4.4.1 层组电子学设计 | 第102-106页 |
| 4.4.2 其他模块设计 | 第106-108页 |
| 4.4.3 原型系统实验室测试 | 第108-109页 |
| 4.5 本章小结 | 第109-110页 |
| 参考文献 | 第110-112页 |
| 第5章 原型望远镜系统的束流测试 | 第112-134页 |
| 5.1 ALPIDE层组束流测试 | 第112-120页 |
| 5.1.1 测试平台搭建 | 第112-113页 |
| 5.1.2 测试结果与分析 | 第113-120页 |
| 5.2 多层束流望远镜系统束流测试 | 第120-129页 |
| 5.2.1 测试平台搭建 | 第120-121页 |
| 5.2.2 功能验证测试 | 第121-124页 |
| 5.2.3 径迹分辨率测试 | 第124-127页 |
| 5.2.4 触发率测试 | 第127-128页 |
| 5.2.5 测试结果分析 | 第128-129页 |
| 5.3 本章小结 | 第129-132页 |
| 参考文献 | 第132-134页 |
| 第6章 总结与展望 | 第134-138页 |
| 6.1 总结与创新点 | 第134-135页 |
| 6.2 展望 | 第135-138页 |
| 致谢 | 第138-140页 |
| 在读期间发表的学术论文 | 第140页 |
