| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-8页 |
| 第1章 引言 | 第12-34页 |
| 1.1 微光遥感技术的应用背景 | 第12-20页 |
| 1.2 微光遥感技术的发展现状 | 第20-28页 |
| 1.2.1 国外发展现状 | 第20-26页 |
| 1.2.2 国内发展现状 | 第26-28页 |
| 1.3 微光遥感技术的发展趋势及面临的挑战 | 第28-32页 |
| 1.3.1 微光遥感技术的发展趋势 | 第28页 |
| 1.3.2 微光遥感技术面临的挑战 | 第28-32页 |
| 1.4 本课题研究内容 | 第32-34页 |
| 第2章 低噪声微光探测技术研究 | 第34-69页 |
| 2.1 可用于微光遥感成像系统的低噪声图像传感器 | 第34-45页 |
| 2.1.1 ICCD图像传感器 | 第34-36页 |
| 2.1.2 EMCCD图像传感器 | 第36-39页 |
| 2.1.3 科学级CMOS图像传感器 | 第39-42页 |
| 2.1.4 适用于星载微光成像系统的图像传感器分析 | 第42-45页 |
| 2.2 基于sCMOS图像传感器微光成像系统噪声分析 | 第45-53页 |
| 2.2.1 sCMOS图像传感器微光成像系统时间噪声分析 | 第45-50页 |
| 2.2.2 sCMOS图像传感器微光成像系统时间噪声模型 | 第50-53页 |
| 2.3 基于sCMOS图像传感器微光成像系统噪声抑制技术 | 第53-62页 |
| 2.3.1 调整系统带宽抑制探测器读出噪声 | 第53-59页 |
| 2.3.2 调整系统增益降低列级电路噪声 | 第59-60页 |
| 2.3.3 探测器暗电流噪声抑制方法 | 第60-62页 |
| 2.4 随机行条纹噪声分析及抑制方法 | 第62-67页 |
| 2.4.1 基于sCMOS图像传感器的随机行条纹噪声分析 | 第62-64页 |
| 2.4.2 随机行条纹噪声抑制方法研究 | 第64-67页 |
| 2.5 本章小结 | 第67-69页 |
| 第3章 微光成像系统灵敏度分析及评估方法研究 | 第69-94页 |
| 3.1 像元转换增益分析与测试 | 第69-78页 |
| 3.1.1 像元转换增益推导与分析 | 第69-74页 |
| 3.1.2 像元转换增益测试 | 第74-78页 |
| 3.2 系统噪声性能测试与结果分析 | 第78-81页 |
| 3.2.1 系统空间噪声测试与分析 | 第78-80页 |
| 3.2.2 系统时间噪声测试与分析 | 第80-81页 |
| 3.3 系统信噪比分析与提升方法研究 | 第81-87页 |
| 3.3.1 系统信噪比模型 | 第81-82页 |
| 3.3.2 系统信噪比实验室测试方法 | 第82-84页 |
| 3.3.3 系统信噪比提升方法研究 | 第84-87页 |
| 3.4 基于辐射定标的微光成像系统等效照度信噪比评估 | 第87-93页 |
| 3.4.1 实验室微光辐射定标方法 | 第87-89页 |
| 3.4.2 基于等效照度的夜天光信噪比估算 | 第89-93页 |
| 3.5 本章小结 | 第93-94页 |
| 第4章 高灵敏度大动态范围星载微光成像方法研究 | 第94-104页 |
| 4.1 高灵敏度大动态范围星载微光成像概述 | 第94-95页 |
| 4.2 数字域TDI微光成像方法 | 第95-98页 |
| 4.2.1 数字域TDI成像模式对图像传感器的需求 | 第95-96页 |
| 4.2.2 全局快门sCMOS图像传感器数字域TDI实现方法 | 第96-98页 |
| 4.3 数字域TDI微光成像系统特性分析与测试 | 第98-103页 |
| 4.3.1 数字域TDI微光成像系统灵敏度分析与测试 | 第98-101页 |
| 4.3.2 数字域TDI大动态范围微光成像方法 | 第101-102页 |
| 4.3.3 数字域TDI微光成像系统MTF分析 | 第102-103页 |
| 4.4 本章小结 | 第103-104页 |
| 第5章 微光成像实验与分析 | 第104-112页 |
| 5.1 高灵敏低噪声sCMOS图像传感器微光成像系统 | 第104-105页 |
| 5.2 微光外景成像实验与结果分析 | 第105-108页 |
| 5.3 数字域TDI微光成像实验与结果分析 | 第108-111页 |
| 5.4 本章小结 | 第111-112页 |
| 第6章 总结与展望 | 第112-116页 |
| 参考文献 | 第116-122页 |
| 致谢 | 第122-124页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第124页 |
