G公司数控系统研发项目风险管理研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 研究意义 | 第12页 |
| 1.3 国内外数控系统的发展现状 | 第12-14页 |
| 1.3.1 数控系统在国外的发展现状 | 第12-13页 |
| 1.3.2 数控系统在国内的发展现状 | 第13-14页 |
| 1.4 研究的目标与内容 | 第14-15页 |
| 1.4.1 研究的目标 | 第14页 |
| 1.4.2 研究的内容 | 第14-15页 |
| 1.5 研究方法 | 第15-16页 |
| 1.5.1 研究方法 | 第15-16页 |
| 1.5.2 技术路线 | 第16页 |
| 1.6 本章小结 | 第16-17页 |
| 第二章 项目风险管理的理论与基础 | 第17-30页 |
| 2.1 项目风险管理概述 | 第17-23页 |
| 2.1.1 项目风险的定义与特点 | 第17-18页 |
| 2.1.2 项目风险管理的定义 | 第18页 |
| 2.1.3 项目风险的识别 | 第18-19页 |
| 2.1.4 项目风险的评估 | 第19-21页 |
| 2.1.5 项目风险的控制 | 第21-23页 |
| 2.1.6 项目中风险监控 | 第23页 |
| 2.2 数控系统研发特征 | 第23-29页 |
| 2.2.1 国内数控系统行业特征 | 第23-25页 |
| 2.2.2 数控系统研发项目特点 | 第25-26页 |
| 2.2.3 数控系统研究现状和发展趋势 | 第26-29页 |
| 2.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 G公司数控系统项目研发风险识别 | 第30-42页 |
| 3.1 项目开发背景 | 第30-34页 |
| 3.1.1 G公司概况描述 | 第30页 |
| 3.1.2 项目的市场环境 | 第30-32页 |
| 3.1.3 G公司数控系统研发项目介绍 | 第32-34页 |
| 3.2 G公司数控系统研发项目风险识别 | 第34-37页 |
| 3.2.1 G公司数控系统研发项目开发流程 | 第34-35页 |
| 3.2.2 研发项目的风险分析 | 第35-37页 |
| 3.3 采用德尔菲法分析风险因素 | 第37-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 G公司数控系统研发项目风险评价与度量 | 第42-49页 |
| 4.1 层次分析法 | 第42-47页 |
| 4.1.1 建立层次结构模型 | 第42-43页 |
| 4.1.2 构造风险因素判断矩阵 | 第43-47页 |
| 4.2 项目风险评估结果 | 第47-48页 |
| 4.3 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 G公司数控系统研发项目风险控制与防范 | 第49-63页 |
| 5.1 建立风险管理流程 | 第50-51页 |
| 5.2 风险防范措施 | 第51-60页 |
| 5.2.1 对于需求变动的缓解措施 | 第52-54页 |
| 5.2.2 项目费用变动的缓解措施 | 第54-55页 |
| 5.2.3 技术因素的缓解措施 | 第55-57页 |
| 5.2.4 人力资源风险的应对措施 | 第57-58页 |
| 5.2.5 环境、物料、设备风险的缓解措施 | 第58-60页 |
| 5.3 风险的监控 | 第60-61页 |
| 5.3.1 风险检查 | 第60-61页 |
| 5.3.2 风险跟踪 | 第61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-63页 |
| 结论 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 附件 | 第70页 |
