半导体热电材料性能参数测量方法及装置研究
摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
1 绪论 | 第10-19页 |
1.1 热电材料概述 | 第10-12页 |
1.2 热电材料性能参数测量方法 | 第12-17页 |
1.3 本论文研究意义及主要内容 | 第17-19页 |
2 多功能一体化测量方法及设计 | 第19-28页 |
2.1 测量误差来源、基本测量构造分类 | 第19-20页 |
2.2 测量样品台设计方案 | 第20-22页 |
2.3 塞贝克系数测量方法介绍 | 第22-24页 |
2.4 电阻率测量方法介绍 | 第24-27页 |
2.5 本章小结 | 第27-28页 |
3 一体化测量电路设计及实现 | 第28-41页 |
3.1 电路需求分析 | 第28页 |
3.2 电路设计 | 第28-32页 |
3.3 一体化测量电路实现 | 第32-38页 |
3.4 测量平台硬件整体实现 | 第38-40页 |
3.5 本章小结 | 第40-41页 |
4 测量软件设计及实现 | 第41-52页 |
4.1 编程语言选择 | 第41-42页 |
4.2 项目需求分析 | 第42-43页 |
4.3 系统构架、程序框图设计 | 第43-47页 |
4.4 软件界面设计及操作流程 | 第47-51页 |
4.5 本章小结 | 第51-52页 |
5 结果论证 | 第52-56页 |
5.1 常规样品测量 | 第52-53页 |
5.2 不均匀样品测量对比 | 第53-55页 |
5.3 本章小结 | 第55-56页 |
全文总结 | 第56-58页 |
致谢 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-62页 |
附录1:攻读硕士学位期间发表的论文 | 第62-63页 |
附录2:攻读硕士学位期间申请的专利 | 第63页 |