星载计算机SRAM加固可靠性的研究与设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 课题的研究背景 | 第8-11页 |
| 1.2 课题研究的目的及意义 | 第11-12页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.3.1 硬件容错的设计 | 第12-13页 |
| 1.3.2 SRAM可靠性分析 | 第13-14页 |
| 1.3.3 基于加固存储器的可靠性分析 | 第14页 |
| 1.3.4 现状综述 | 第14-15页 |
| 1.4 本课题研究的主要内容 | 第15-17页 |
| 第2章 星载SRAM内部结构及信息编码 | 第17-27页 |
| 2.1 SRAM失效的原理 | 第17-18页 |
| 2.2 SRAM阵列分布 | 第18-20页 |
| 2.3 信息编码 | 第20-26页 |
| 2.3.1 编码的基本理论 | 第20-21页 |
| 2.3.2 汉明码及纠错原理 | 第21-23页 |
| 2.3.3 RM码 | 第23-25页 |
| 2.3.4 信息编码保护的SRAM | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 星载SRAM的可靠性评估研究 | 第27-43页 |
| 3.1 空间环境中的星载SRAM | 第28页 |
| 3.2 非刷新模式下的分析 | 第28-29页 |
| 3.3 数学建模研究 | 第29-35页 |
| 3.3.1 SRAM中数据分布 | 第29-30页 |
| 3.3.2 错误分布的建模 | 第30-32页 |
| 3.3.3 错误的覆盖情况 | 第32页 |
| 3.3.4 错误覆盖建模 | 第32-34页 |
| 3.3.5 综合建模 | 第34-35页 |
| 3.4 条件约束 | 第35-38页 |
| 3.5 刷新模式下的分析 | 第38-40页 |
| 3.5.1 约束条件的建立 | 第39-40页 |
| 3.5.2 MTTF的计算 | 第40页 |
| 3.6 MATLAB仿真 | 第40-42页 |
| 3.7 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 硬件电路的设计与实现 | 第43-61页 |
| 4.1 设计思路以及总体方案设计 | 第43-46页 |
| 4.1.1 设计思路 | 第43-44页 |
| 4.1.2 总体方案设计 | 第44-46页 |
| 4.2 EDAC中各模块的设计 | 第46-54页 |
| 4.2.1 外设数据 | 第46-47页 |
| 4.2.2 编码器及译码器 | 第47-48页 |
| 4.2.3 故障注入模块 | 第48-49页 |
| 4.2.4 三模冗余的设计 | 第49-50页 |
| 4.2.5 SRAM的设计 | 第50-53页 |
| 4.2.6 综合电路设计 | 第53-54页 |
| 4.3 电路FPGA仿真 | 第54-59页 |
| 4.3.1 外设数据的生成 | 第54页 |
| 4.3.2 编码器的实现 | 第54-55页 |
| 4.3.3 故障注入的实现 | 第55-56页 |
| 4.3.4 解码器的实现 | 第56-57页 |
| 4.3.5 三模冗余电路的实现 | 第57页 |
| 4.3.6 综合电路的实现 | 第57-59页 |
| 4.4 本章小结 | 第59-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
