超高频射频识别系统性能的分析与测试
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 目录 | 第10-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-25页 |
| ·研究背景 | 第13-19页 |
| ·RFID系统概述 | 第13-18页 |
| ·RFID技术发展及现状 | 第18-19页 |
| ·选题意义 | 第19-21页 |
| ·研究现状 | 第21-23页 |
| ·本文内容安排 | 第23-25页 |
| 第2章 基于虚拟仪器技术的RFID测试系统 | 第25-63页 |
| ·RFID系统测试技术及内容 | 第25-27页 |
| ·RFID测试标准及测试环境 | 第27-29页 |
| ·基于虚拟仪器技术的RFID性能测试系统 | 第29-44页 |
| ·虚拟仪器技术概述 | 第29-30页 |
| ·软件定义无线电概述 | 第30-33页 |
| ·系统总体设计 | 第33-36页 |
| ·系统具体设计 | 第36-44页 |
| ·测试实例 | 第44-62页 |
| ·空中接口协议一致性测试 | 第45-49页 |
| ·第三方监听测试 | 第49-54页 |
| ·RFID系统性能测试 | 第54-59页 |
| ·其它测试 | 第59-62页 |
| ·小结 | 第62-63页 |
| 第3章 雷达散射截面差值及误码率分析与测试 | 第63-84页 |
| ·RFID系统传播信道 | 第63-72页 |
| ·标签阻抗 | 第65-66页 |
| ·极化损耗 | 第66-67页 |
| ·路径损耗 | 第67-68页 |
| ·天线增益三维表达形式 | 第68-72页 |
| ·雷达散射截面和误码率 | 第72-76页 |
| ·雷达散射截面 | 第73-75页 |
| ·雷达散射截面差值 | 第75页 |
| ·反向链路通信误码率 | 第75-76页 |
| ·基于ARCS的反向链路通信误码率 | 第76-77页 |
| ·实验 | 第77-82页 |
| ·△RCS测试误差修正 | 第78-80页 |
| ·发射功率对△RCS和BER影响的测试 | 第80-81页 |
| ·距离对△RCS和BER影响的测试 | 第81-82页 |
| ·小结 | 第82-84页 |
| 第4章 标签反向散射调制性能分析 | 第84-98页 |
| ·标签反向调制性能 | 第84-86页 |
| ·标签最佳工作条件 | 第86-89页 |
| ·反向链路调制系数 | 第89-94页 |
| ·实验 | 第94-97页 |
| ·发射功率对调制系数影响的测试 | 第94-95页 |
| ·距离对调制系数、标签调制损耗影响测试 | 第95-96页 |
| ·频率对调制系数影响测试 | 第96页 |
| ·不同标签的阅读器最大识别距离及调制系数测试 | 第96-97页 |
| ·小结 | 第97-98页 |
| 第5章 RFID系统标签识别率测试及预测 | 第98-125页 |
| ·RFID系统性能测试实验 | 第98-113页 |
| ·实验设计 | 第98-99页 |
| ·RFID系统性能测试实验设计 | 第99-113页 |
| ·仿真实验环境 | 第113-118页 |
| ·RFID系统测试台硬件架构 | 第113-116页 |
| ·RFID系统测试平台软件架构 | 第116-117页 |
| ·RFID系统测试台工作过程 | 第117-118页 |
| ·基于学习矢量量化和遗传算法的标签识别率预测 | 第118-124页 |
| ·LVQ神经网络 | 第119-120页 |
| ·遗传算法 | 第120页 |
| ·改进GA-LVQ算法 | 第120-122页 |
| ·改进GA-LVQ算法在标签识别率预测中的应用 | 第122-124页 |
| ·小结 | 第124-125页 |
| 结论 | 第125-127页 |
| 参考文献 | 第127-135页 |
| 致谢 | 第135-137页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的学术论文 | 第137-138页 |
| 附录B 攻读学位期间参与的科研课题 | 第138页 |
