| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 前言 | 第10-12页 |
| 第一章 相图及测定 | 第12-23页 |
| 1.1 相图的基本概念及其应用 | 第12-13页 |
| 1.1.1 体系、相、自由度和相率 | 第12-13页 |
| 1.1.2 相变和相平衡 | 第13页 |
| 1.1.3 相图的应用 | 第13页 |
| 1.2 相图的测定方法 | 第13-16页 |
| 1.2.1 动态法 | 第14-15页 |
| 1.2.2 静态法(淬火法) | 第15-16页 |
| 1.3 X射线粉末衍射分析 | 第16-18页 |
| 1.3.1 X射线粉衍射分析原理 | 第16-17页 |
| 1.3.2 X射线衍射数据结果分析方法 | 第17-18页 |
| 1.4 扫描电子显微镜和能谱分析技术 | 第18-23页 |
| 1.4.1 合金金相试样的制备工艺 | 第18-20页 |
| 1.4.2 扫描电子显微镜的基本原理 | 第20-21页 |
| 1.4.3 扫描电子显微镜的放大倍数 | 第21页 |
| 1.4.4 扫描电子显微镜的能谱分析 | 第21-23页 |
| 第二章 文献综述 | 第23-34页 |
| 2.1 概述 | 第23-24页 |
| 2.2 Ge、Mn、Si、Sn的原子参数 | 第24页 |
| 2.3 Mn-Ge二元系 | 第24-26页 |
| 2.4 Mn-Si二元系 | 第26-29页 |
| 2.5 Ge-Si二元系 | 第29-30页 |
| 2.6 Ge-Mn-Si三元系 | 第30-31页 |
| 2.7 Mn-Sn二元系 | 第31-32页 |
| 2.8 Si-Sn二元系 | 第32-33页 |
| 2.9 Mn-Si-Sn三元系 | 第33-34页 |
| 第三章 实验方法 | 第34-37页 |
| 3.1 合金试样的制备 | 第34-35页 |
| 3.2 合金试样的热处理 | 第35页 |
| 3.3 合金试样的X射线衍射分析技术 | 第35-36页 |
| 3.4 样品扫描电镜及能谱分析 | 第36-37页 |
| 第四章 Ge-Mn-Si结果与讨论 | 第37-56页 |
| 4.1 Ge-Mn-Si三元合金系500℃等温截面 | 第37-46页 |
| 4.2 物相分析 | 第46-54页 |
| 4.2.1 三元化合物 | 第46-48页 |
| 4.2.2 Mn-Si二元系化合物 | 第48-50页 |
| 4.2.3 Mn-Ge二元系化合物 | 第50-54页 |
| 4.3 固溶测定 | 第54-56页 |
| 第五章 Mn-Si-Sn结果与讨论 | 第56-73页 |
| 5.1 Mn-Si-Sn三元合金系400℃等温截面 | 第56-64页 |
| 5.2 物相分析 | 第64-71页 |
| 5.2.1 三元化合物 | 第64-66页 |
| 5.2.2 Mn-Si二元系化合物 | 第66页 |
| 5.2.3 Mn-Sn二元系化合物 | 第66-71页 |
| 5.3 固溶测定 | 第71-73页 |
| 第六章 小结 | 第73-74页 |
| 附图：其他部分相区XRD图谱和SEM照片 | 第74-88页 |
| (1) Ge-Mn-Si(500℃)三元系 | 第74-79页 |
| (2) Mn-Si-Sn(400℃)三元系 | 第79-82页 |
| (3) Mn-Si-Sn(750℃)三元系 | 第82-88页 |
| 参考文献 | 第88-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 攻读硕士期间发表论文 | 第92页 |