实时频谱分析仪数字余辉技术的研究与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状与发展动态 | 第10-12页 |
| 1.3 论文主要研究任务指标与章节安排 | 第12-15页 |
| 第二章 数字余辉显示方案设计 | 第15-23页 |
| 2.1 实时频谱分析仪架构概述 | 第15-17页 |
| 2.2 系统与数字余辉显示方案设计 | 第17-22页 |
| 2.2.1 实时频谱分析仪总体方案 | 第17-20页 |
| 2.2.2 时间频谱显示方案设计 | 第20-21页 |
| 2.2.3 概率密度余辉显示方案设计 | 第21-22页 |
| 2.3 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 基于检波的时间频谱显示研究与实现 | 第23-38页 |
| 3.1 时间频谱显示概述 | 第23-24页 |
| 3.2 时间频谱显示技术研究 | 第24-28页 |
| 3.2.1 重叠帧技术与时间频谱图 | 第24-26页 |
| 3.2.2 无缝捕获与时间频谱显示 | 第26-28页 |
| 3.3 时间频谱显示设计与实现 | 第28-37页 |
| 3.3.1 时间频谱显示架构设计 | 第28-30页 |
| 3.3.2 正峰值与负峰值检波实现 | 第30-34页 |
| 3.3.3 平均值检波实现 | 第34-37页 |
| 3.3.4 数据同步控制 | 第37页 |
| 3.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 概率密度余辉显示研究与实现 | 第38-60页 |
| 4.1 概率密度余辉显示概述 | 第38-39页 |
| 4.2 概率密度余辉显示技术研究 | 第39-43页 |
| 4.2.1 余辉处理 | 第39-40页 |
| 4.2.2 显示刷新率与强度 | 第40-42页 |
| 4.2.3 统计线轨迹 | 第42-43页 |
| 4.3 概率密度统计处理设计与实现 | 第43-55页 |
| 4.3.1 概率密度统计架构设计 | 第43-45页 |
| 4.3.2 数据预处理 | 第45页 |
| 4.3.3 点状密度统计实现 | 第45-51页 |
| 4.3.4 插值密度统计实现 | 第51-55页 |
| 4.4 余辉与数据同步控制设计 | 第55-59页 |
| 4.4.1 余辉处理设计与实现 | 第55-58页 |
| 4.4.2 数据同步控制实现 | 第58-59页 |
| 4.5 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 数字余辉显示的控制功能设计与实现 | 第60-68页 |
| 5.1 系统控制功能方案设计 | 第60-61页 |
| 5.2 控制功能实现流程以及功能说明 | 第61-63页 |
| 5.3 命令控制功能的实现 | 第63-67页 |
| 5.4 本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 测试与分析 | 第68-83页 |
| 6.1 测试平台与测试环境 | 第68-69页 |
| 6.2 数字余辉显示控制功能测试 | 第69-71页 |
| 6.3 时间频谱显示测试 | 第71-75页 |
| 6.3.1 检波功能测试 | 第72-74页 |
| 6.3.2 时间频谱分析测试 | 第74-75页 |
| 6.4 概率密度余辉显示测试 | 第75-82页 |
| 6.4.1 显示模式测试 | 第76-77页 |
| 6.4.2 显示刷新率与强度测试 | 第77-79页 |
| 6.4.3 余辉功能测试 | 第79-82页 |
| 6.5 本章小结 | 第82-83页 |
| 第七章 总结与展望 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-87页 |
| 附录 | 第87页 |
