| 摘要 | 第6-7页 |
| abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 选题背景 | 第11-15页 |
| 1.1.1 中子源发展 | 第11-13页 |
| 1.1.2 通用粉末衍射仪（GPPD）及其中子探测器阵列 | 第13-15页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第15-17页 |
| 1.3 选题的意义及研究内容 | 第17-18页 |
| 1.3.1 选题的意义 | 第17页 |
| 1.3.2 研究内容 | 第17-18页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第18-19页 |
| 第2章 光电检测平台搭建 | 第19-33页 |
| 2.1 闪烁体中子探测器的基本结构和光响应不一致特性 | 第19-21页 |
| 2.1.1 闪烁体中子探测器基本结构 | 第19-20页 |
| 2.1.2 闪烁体中子探测器通道光响应不一致性分析 | 第20-21页 |
| 2.2 检测平台总体框架与子模块 | 第21-29页 |
| 2.2.1 光源调制模块 | 第22-24页 |
| 2.2.2 机械扫描模块 | 第24-25页 |
| 2.2.3 数据获取模块 | 第25-26页 |
| 2.2.4 控制框架 | 第26-27页 |
| 2.2.5 其它辅助模块 | 第27-29页 |
| 2.3 数据处理 | 第29-30页 |
| 2.3.1 分析软件 | 第29页 |
| 2.3.2 数据处理程序 | 第29-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-33页 |
| 第3章 检测平台优化与调试 | 第33-43页 |
| 3.1 光源稳定性 | 第33-34页 |
| 3.2 光纤传输衰减波动性 | 第34-37页 |
| 3.2.1 光束与光纤耦合方式 | 第35页 |
| 3.2.2 光纤弯曲波动 | 第35-37页 |
| 3.3 待测器件坐标标定 | 第37-39页 |
| 3.4 QDC标定 | 第39-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 光电倍增管刻度 | 第43-55页 |
| 4.1 光电倍增管特性 | 第43-45页 |
| 4.2 单光电子峰刻度与绝对增益测试方案 | 第45-48页 |
| 4.3 光电倍增管均匀性标定 | 第48-53页 |
| 4.3.1 孔道耦合方式设计 | 第48-49页 |
| 4.3.2 MAPMT扫描参量及数据处理结果 | 第49-51页 |
| 4.3.3 孔道耦合参数选择 | 第51-53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-55页 |
| 第5章 闪烁体探测器像素光响应标定及中子成像测试 | 第55-66页 |
| 5.1 光纤阵列传输效率刻度 | 第55-58页 |
| 5.1.1 光纤性能分析 | 第55-56页 |
| 5.1.2 光纤阵列刻度方案 | 第56-58页 |
| 5.2 探测器单元中子成像测试 | 第58-64页 |
| 5.2.1 探测器中子信号重建 | 第58-59页 |
| 5.2.2 北京源库 ~(252)Cf中子源成像 | 第59-63页 |
| 5.2.3 中子束流成像 | 第63-64页 |
| 5.3 本章小结 | 第64-66页 |
| 结论 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
