摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 论文研究背景 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-14页 |
1.3 研究的目的和意义 | 第14-15页 |
1.3.1 研究目的 | 第14-15页 |
1.3.2 研究意义 | 第15页 |
1.4 论文的研究内容和结构安排 | 第15-17页 |
第2章 需求分析与方案设计 | 第17-35页 |
2.1 高精度线偏振辐射计工作原理介绍 | 第17-19页 |
2.2 高精度线偏振辐射计数据采集系统需求分析 | 第19-33页 |
2.2.1 探测器选型 | 第20-23页 |
2.2.2 前放电路和AD选型 | 第23-32页 |
2.2.3 主控选型 | 第32-33页 |
2.3 方案设计 | 第33-34页 |
2.4 本章小结 | 第34-35页 |
第3章 高精度线偏振辐射计硬件设计 | 第35-50页 |
3.1 主控模块设计 | 第35-41页 |
3.1.1 FPGA概述 | 第35-37页 |
3.1.2 FPGA选型 | 第37-38页 |
3.1.3 FPGA最小系统设计 | 第38-41页 |
3.2 DDC112模块设计 | 第41页 |
3.3 温控模块设计 | 第41-42页 |
3.4 其他控制模块设计 | 第42-44页 |
3.5 电源模块设计 | 第44-48页 |
3.6 硬件电路调试 | 第48-49页 |
3.7 本章小结 | 第49-50页 |
第4章 高精度线偏振辐射计FPGA控制程序设计 | 第50-60页 |
4.1 ISE集成环境介绍 | 第50-51页 |
4.2 主控程序设计与实现 | 第51-52页 |
4.3 DDC112模块程序设计与实现 | 第52-53页 |
4.4 帧协议解析模块设计与实现 | 第53-54页 |
4.5 FIFO存储器程序设计与实现 | 第54-59页 |
4.6 本章小结 | 第59-60页 |
第5章 性能测试与验证 | 第60-68页 |
5.1 电路性能测试与验证 | 第60-61页 |
5.1.1 电路噪声测试 | 第60页 |
5.1.2 电路线性测试 | 第60-61页 |
5.2 整机性能测试与验证 | 第61-67页 |
5.2.1 等效噪声辐亮度与典型辐亮度下的信噪比测试 | 第61-63页 |
5.2.2 仪器的动态范围测试 | 第63-64页 |
5.2.3 系统线性测试 | 第64页 |
5.2.4 系统稳定性测试 | 第64-65页 |
5.2.5 探测器本底测试 | 第65-66页 |
5.2.6 偏振度验证 | 第66-67页 |
5.3 本章小结 | 第67-68页 |
第6章 总结与展望 | 第68-70页 |
6.1 个人独立完成的工作 | 第68-69页 |
6.2 展望 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
攻读硕士期间发表的论文 | 第74页 |