| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-20页 |
| 1.1 研究课题的背景及意义 | 第14-15页 |
| 1.2 非易失性存储器研究概况 | 第15页 |
| 1.3 常用的验证方法学 | 第15-18页 |
| 1.3.1 System Verilog高级验证语言 | 第16页 |
| 1.3.2 UVM验证方法学 | 第16-18页 |
| 1.4 论文研究内容结构 | 第18-20页 |
| 第二章 电源管理芯片中非易失性存储器的应用原理及结构 | 第20-24页 |
| 2.1 电源管理芯片中非易失性存储器的应用原理 | 第20-21页 |
| 2.2 电源管理芯片中非易失性存储器的应用结构 | 第21-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 非易失性存储器控制系统设计 | 第24-46页 |
| 3.1 非易失性存储器控制系统结构设计 | 第24-26页 |
| 3.1.1 非易失性存储器控制系统基本结构 | 第24-25页 |
| 3.1.2 非易失性存储器控制系统内部功能划分 | 第25-26页 |
| 3.2 非易失性存储器内部数据存储格式 | 第26-33页 |
| 3.2.1 Section_Header的解析 | 第27-31页 |
| 3.2.3 Section_Data的数据类型 | 第31-33页 |
| 3.3 主控制系统功能设计实现 | 第33-35页 |
| 3.4 数据写入功能设计实现 | 第35-40页 |
| 3.4.1 数据写入通路 | 第35-36页 |
| 3.4.2 数据写入控制逻辑 | 第36-37页 |
| 3.4.3 数据写入检查控制逻辑 | 第37-40页 |
| 3.5 数据读取功能设计实现 | 第40-44页 |
| 3.5.1 数据读取通路 | 第40-41页 |
| 3.5.2 数据读取控制逻辑 | 第41-42页 |
| 3.5.3 数据读取自检控制逻辑 | 第42-44页 |
| 3.6 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 基于UVM验证平台的设计 | 第46-66页 |
| 4.1 验证需求分析 | 第46-49页 |
| 4.2 创建验证平台结构 | 第49-50页 |
| 4.3 验证平台底层UVC的创建 | 第50-58页 |
| 4.3.1 制定功能验证策略 | 第50-51页 |
| 4.3.2 搭建系统控制SYS_CTRL UVC验证环境 | 第51-56页 |
| 4.3.3 搭建AP UVC验证环境 | 第56-57页 |
| 4.3.4 搭建Mailbox UVC验证环境 | 第57页 |
| 4.3.5 搭建OTP UVC验证环境 | 第57-58页 |
| 4.3.6 搭建ORAB UVC验证环境 | 第58页 |
| 4.4 创建验证平台的功能检测机制 | 第58-61页 |
| 4.4.1 实现Monitor和Scoreboard的连接 | 第58-60页 |
| 4.4.2 Scoreboard检测机制 | 第60-61页 |
| 4.5 NVM顶层验证平台结构 | 第61-64页 |
| 4.6 本章小结 | 第64-66页 |
| 第五章 功能验证与结果分析 | 第66-82页 |
| 5.1 创建验证用例 | 第66-68页 |
| 5.1.1 数据写入功能验证策略 | 第66-67页 |
| 5.1.2 数据读取功能验证策略 | 第67页 |
| 5.1.3 数据读取自检功能验证策略 | 第67-68页 |
| 5.2 验证结果分析 | 第68-78页 |
| 5.3 覆盖率检查分析 | 第78-81页 |
| 5.3.1 代码覆盖率 | 第78-79页 |
| 5.3.2 功能覆盖率 | 第79-81页 |
| 5.4 本章小结 | 第81-82页 |
| 第六章 总结与展望 | 第82-84页 |
| 6.1 研究总结 | 第82-83页 |
| 6.2 研究展望 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 作者简介 | 第88-89页 |
