| 摘要 | 第5-8页 |
| ABSTRACT | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第16-32页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第16-17页 |
| 1.2 单点测温技术 | 第17-24页 |
| 1.2.1 接触式测温方法 | 第18页 |
| 1.2.2 辐射测温方法 | 第18-24页 |
| 1.3 CCD测温技术研究与发展现状 | 第24-28页 |
| 1.3.1 全光谱和单光谱CCD图像测温技术 | 第24-26页 |
| 1.3.2 多光谱CCD图像测温技术 | 第26-28页 |
| 1.4 论文的研究内容及创新点 | 第28-32页 |
| 1.4.1 本文的主要研究内容 | 第28-30页 |
| 1.4.2 论文的主要创新点 | 第30-32页 |
| 第二章 面阵CCD多光谱测温机理模型 | 第32-46页 |
| 2.1 CCD图像测温技术 | 第32-37页 |
| 2.1.1 CCD的基本工作原理 | 第32-34页 |
| 2.1.2 辐射测温的物理基础 | 第34-36页 |
| 2.1.3 CCD图像测温的基本原理 | 第36-37页 |
| 2.2 CCD图像传感器辐射测温模型 | 第37-42页 |
| 2.2.1 单色辐射测温模型 | 第37-40页 |
| 2.2.2 双色辐射测温模型 | 第40-41页 |
| 2.2.3 三色辐射测温模型 | 第41-42页 |
| 2.3 发射率偏离设定值时引起的测温误差分析 | 第42-45页 |
| 2.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第三章 图像测温仪等精度温度场测量机理的研究 | 第46-66页 |
| 3.1 目标与系统的距离变化对测温精度的影响 | 第46-51页 |
| 3.1.1 单光谱测温方法中距离导致的误差补偿模型 | 第47-51页 |
| 3.1.2 减小距离变化对测温精度影响的有效办法 | 第51页 |
| 3.2 平面精度的非均匀性补偿 | 第51-60页 |
| 3.2.1 像素强度响应的不一致性矫正 | 第52-54页 |
| 3.2.2 轴外像素测量精度补偿 | 第54-60页 |
| 3.3 测温范围扩展及低温段测量精度的改善 | 第60-65页 |
| 3.3.1 问题的提出 | 第60-62页 |
| 3.3.2 自适应光积分时间测温方法 | 第62-65页 |
| 3.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 第四章 差分多光谱CCD测温仪的研制 | 第66-96页 |
| 4.1 测温系统的性能特点 | 第66页 |
| 4.2 测温仪设计方案确定 | 第66-68页 |
| 4.2.1 总体设计方案 | 第66-68页 |
| 4.2.2 方案功能定义 | 第68页 |
| 4.3 测温仪工作波长选择 | 第68-74页 |
| 4.4 斩光码盘式光学系统结构设计 | 第74-77页 |
| 4.5 差分多光谱图像测温仪的工作原理 | 第77-79页 |
| 4.6 测温仪硬件电路设计 | 第79-88页 |
| 4.6.1 CCD驱动及模拟前端系统 | 第79-83页 |
| 4.6.2 视频采集及控制通讯系统 | 第83-85页 |
| 4.6.3 电源系统构成 | 第85页 |
| 4.6.4 电路系统的PCB设计及抗干扰研究 | 第85-88页 |
| 4.7 RAW格式视频捕获驱动时序 | 第88-91页 |
| 4.8 斩光码盘的数字PID调速算法 | 第91-95页 |
| 4.9 本章小结 | 第95-96页 |
| 第五章 提高测温仪精度和实时性的方法 | 第96-112页 |
| 5.1 研制的测温仪误差来源分析 | 第96-99页 |
| 5.2 提高测量精度的方法 | 第99-105页 |
| 5.2.1 暗电流抑制 | 第99-101页 |
| 5.2.2 复位噪声的抑制 | 第101-102页 |
| 5.2.3 空间数字滤波 | 第102-105页 |
| 5.3 实时测温方法的研究 | 第105-107页 |
| 5.4 以太网通讯的可靠性与实时性 | 第107-111页 |
| 5.4.1 以太网通讯的可靠性与实时性分析 | 第107-109页 |
| 5.4.2 以太网通讯的可靠性与实时性解决方案 | 第109-111页 |
| 5.5 本章小结 | 第111-112页 |
| 第六章 仪器性能测试与现场实验 | 第112-126页 |
| 6.1 系统功能性测试 | 第112-114页 |
| 6.1.1 信号时序测试 | 第112-113页 |
| 6.1.2 图像采集及网络功能测试 | 第113-114页 |
| 6.2 CCD暗电流及强度响应测试 | 第114-117页 |
| 6.2.1 暗电流抑制测试 | 第114-115页 |
| 6.2.2 CCD像元强度响应测试 | 第115-117页 |
| 6.3 仪器标定与抗干扰性测试 | 第117-119页 |
| 6.3.1 图像测温仪的标定 | 第117-119页 |
| 6.3.2 测温仪抗干扰性测试 | 第119页 |
| 6.4 精度补偿模型验证 | 第119-122页 |
| 6.4.1 目标与系统距离变化导致的测温误差 | 第119-120页 |
| 6.4.2 图像测温仪平面精度评估 | 第120-122页 |
| 6.5 铸坯表面温度场的现场测量 | 第122-124页 |
| 6.6 本章小结 | 第124-126页 |
| 第七章 结论 | 第126-128页 |
| 7.1 结论 | 第126-127页 |
| 7.2 展望 | 第127-128页 |
| 参考文献 | 第128-136页 |
| 致谢 | 第136-138页 |
| 攻读博士期间的主要工作 | 第138-140页 |
| 作者简介 | 第140页 |