摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第1章 绪论 | 第9-13页 |
·电磁兼容的概念 | 第9页 |
·相关的EMC组织和标准 | 第9-10页 |
·微机保护和自动装置的发展及其所处电磁环境的变化 | 第10页 |
·电气设备场内电磁干扰种类及其传播途径 | 第10-11页 |
·微机保护和自动装置的电磁兼容研究 | 第11-12页 |
·芯片级电磁兼容研究及元器件级电磁兼容研究 | 第11页 |
·插件级(印制板级)电磁兼容研究 | 第11-12页 |
·装置系统级电磁兼容研究 | 第12页 |
·本论文所做的的工作 | 第12-13页 |
第2章 对微机保护装置进行抗扰度试验 | 第13-18页 |
·试验概述 | 第13-14页 |
·试验过程和结果 | 第14-17页 |
·电快速瞬变试验 | 第14-16页 |
·直流电压下降与中断试验 | 第16页 |
·1.2/50μs(8/20μs)浪涌试验 | 第16-17页 |
·本章小结 | 第17-18页 |
第3章 微机保护及自动装置电磁兼容的研究和应用 | 第18-27页 |
·装置内部电磁骚扰源及电磁骚扰的耦合机理 | 第18-21页 |
·装置内部骚扰源 | 第18页 |
·电磁骚扰耦合机理 | 第18-21页 |
·一些集中参数电路理论模型在保护装置EMC中的应用 | 第21-24页 |
·分析共摸骚扰向差模骚扰转化的模型 | 第21-22页 |
·分析辅助变流器/变压器原、副方绕组的耦合电容的模型 | 第22-23页 |
·分析浪涌干扰从开关量输出端口窜入的模型 | 第23-24页 |
·装置插件PCB板上产生的辐射 | 第24-26页 |
·工作电流环路产生的差模辐射 | 第24-25页 |
·I/O电缆及导线产生的共模辐射 | 第25页 |
·实际电路的辐射 | 第25-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
第4章 电气设备场内电磁骚扰源的机理及模型 | 第27-34页 |
·电气设备场内电磁骚扰源综述 | 第27页 |
·高压开关合跳操作引起的暂态现象 | 第27-29页 |
·电磁骚扰机理及模型 | 第28页 |
·高压开关合跳操作过程分析 | 第28-29页 |
·雷电引起的电气暂态现象 | 第29-30页 |
·低压设备合跳操作引起的电快速暂态 | 第30-32页 |
·电磁骚扰机理及模型 | 第30-31页 |
·低压设备合跳操作过程分析 | 第31-32页 |
·静电放电 | 第32-33页 |
·静电放电机理及模型 | 第32页 |
·静电放电过程分析 | 第32-33页 |
·本章小结 | 第33-34页 |
第5章 电气设备场内电磁干扰的传播途径 | 第34-42页 |
·耦合模型 | 第34-38页 |
·基本理论 | 第34-35页 |
·基于电路理论的简化耦合模型 | 第35-38页 |
·内对应各种耦合模式的电磁干扰传播途径 | 第38-41页 |
·对应不同耦合模式的各种常见骚扰 | 第38-39页 |
·开关场的各种耦合途径 | 第39-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第6章 结论及展望 | 第42-43页 |
参考文献 | 第43-45页 |
在学期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第45-46页 |
致谢 | 第46-47页 |
作者简介 | 第47页 |