| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第12-23页 |
| 1.1 干涉式微波辐射计简介 | 第12-20页 |
| 1.1.1 微波辐射测量的基本原理 | 第12-13页 |
| 1.1.2 微波辐射计的基本原理 | 第13-15页 |
| 1.1.3 干涉式综合孔径微波辐射计的原理和应用 | 第15-17页 |
| 1.1.4 数字干涉综合孔径微波辐射计特点、优势 | 第17-20页 |
| 1.2 国外研究现状和发展趋势的分析 | 第20-21页 |
| 1.3 国内研究现状 | 第21页 |
| 1.4 本文的背景及意义 | 第21页 |
| 1.5 论文主要内容及章节安排 | 第21-23页 |
| 第2章 低阶量化数字相关结果分析 | 第23-33页 |
| 2.1 低阶量化数字干涉系统模型 | 第23页 |
| 2.2 AD偏置校正 | 第23-24页 |
| 2.3 数字相关结果到可见度函数的校正 | 第24-33页 |
| 2.3.1 2阶量化及数字相关结果到模拟相关系数的校正 | 第24-25页 |
| 2.3.2 3阶量化及数字相关结果到模拟相关系数的校正 | 第25-26页 |
| 2.3.3 4阶、5 阶、8 阶量化及数字相关结果到模拟相关系数的校正 | 第26-33页 |
| 第3章 多种量化数字相关系统的仿真研究 | 第33-43页 |
| 3.1 多种量化数字相关系统时域仿真模型 | 第33-35页 |
| 3.1.1 仿真模型系统主要参数 | 第33-34页 |
| 3.1.2 仿真系统的MATLAB实现 | 第34-35页 |
| 3.2 量化对相关结果的影响分析 | 第35-41页 |
| 3.2.1 恒定噪声源注入最佳门限仿真分析 | 第36-37页 |
| 3.2.2 变化噪声源注入最佳门限仿真分析 | 第37-39页 |
| 3.2.3 变化噪声源注入固定门限仿真分析 | 第39-41页 |
| 3.3 非高斯信号成分对于相关结果的影响分析 | 第41-43页 |
| 第4章 高速A/D采样板实验和分析 | 第43-68页 |
| 4.1 实验系统设计 | 第43-47页 |
| 4.1.1 多种量化二元数字相关系统 | 第43-44页 |
| 4.1.2 8-bit信号二元数字相关 | 第44-47页 |
| 4.2 实验平台搭建 | 第47-50页 |
| 4.3 高速ADC采样板简介 | 第50页 |
| 4.4 FPGA程序实现多种量化二元数字相关系统 | 第50-58页 |
| 4.4.1 多种量化二元数字相关系统整体框图 | 第50-52页 |
| 4.4.2 相关处理模块 | 第52-57页 |
| 4.4.3 AD偏置校正模块 | 第57页 |
| 4.4.4 调试接口模块 | 第57-58页 |
| 4.5 实验验证与分析 | 第58-68页 |
| 4.5.1 系统参数和分析 | 第58-59页 |
| 4.5.2 ADC量化量程测量 | 第59-60页 |
| 4.5.3 AD偏置和相关偏置 | 第60-61页 |
| 4.5.4 数字相关系数校正结果 | 第61-63页 |
| 4.5.5 变化相关噪声对不同阶量化干涉计灵敏度的影响实验 | 第63-66页 |
| 4.5.6 采样频率和量化阶数对于灵敏度的影响 | 第66页 |
| 4.5.7 小结 | 第66-68页 |
| 第5章 总结与展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 附录 15阶量化数字相关结果到模拟相关系数的校正公式推导 | 第72-78页 |
| 附录 28阶量化数字相关结果到模拟相关系数的校正公式推导 | 第78-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第87页 |
