摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-23页 |
1.1 引言 | 第11页 |
1.2 太赫兹电磁波性质及应用 | 第11-13页 |
1.2.1 太赫兹电磁波性质 | 第11-12页 |
1.2.2 太赫兹电磁波的应用 | 第12-13页 |
1.3 太赫兹电磁波探测成像技术 | 第13-16页 |
1.3.1 太赫兹相干探测技术 | 第14页 |
1.3.2 太赫兹非相干探测技术 | 第14-15页 |
1.3.3 太赫兹微测辐射热计成像技术 | 第15-16页 |
1.4 太赫兹探测器辐射测试技术 | 第16-19页 |
1.4.1 太赫兹黑体辐射测试技术 | 第16-17页 |
1.4.2 太赫兹激光器辐射测试技术 | 第17-19页 |
1.5 太赫兹探测器测试技术国内外研究现状 | 第19-21页 |
1.6 本文的主要工作内容 | 第21-23页 |
第二章 太赫兹微测辐射热计探测原理及器件结构 | 第23-30页 |
2.1 微测辐射热计的探测原理 | 第23-25页 |
2.1.1 太赫兹波薄膜吸收探测 | 第24页 |
2.1.2 太赫兹波谐振腔吸收探测 | 第24-25页 |
2.2 太赫兹探测器的微桥结构 | 第25-26页 |
2.3 太赫兹探测器的读出电路 | 第26-27页 |
2.4 太赫兹探测器的封装结构 | 第27-28页 |
2.5 太赫兹探测器结构对性能的影响 | 第28-29页 |
2.6 本章小结 | 第29-30页 |
第三章 太赫兹探测器性能分析及测试技术 | 第30-43页 |
3.1 太赫兹探测器性能分析 | 第30-37页 |
3.1.1 探测器响应电压 | 第30-34页 |
3.1.2 探测器噪声电压 | 第34-36页 |
3.1.3 探测器噪声等效功率 | 第36-37页 |
3.2 太赫兹探测器测试技术 | 第37-41页 |
3.2.1 探测器响应率 | 第37-38页 |
3.2.2 时域RMS噪声 | 第38-39页 |
3.2.3 非均匀性 | 第39-40页 |
3.2.4 固定图像噪声 | 第40页 |
3.2.5 噪声等效功率 | 第40-41页 |
3.2.6 动态范围 | 第41页 |
3.3 太赫兹探测器测试平台的搭建 | 第41-42页 |
3.4 本章小结 | 第42-43页 |
第四章 太赫兹测试系统的设计与实现 | 第43-59页 |
4.1 测试系统平台整体功能框架规划 | 第43-45页 |
4.2 测试系统硬件电路的实现 | 第45-52页 |
4.2.1 太赫兹探测器驱动电路 | 第46-48页 |
4.2.2 电源管理电路 | 第48页 |
4.2.3 模数转换电路 | 第48-49页 |
4.2.4 太赫兹焦平面温度控制电路 | 第49-51页 |
4.2.5 LVDS接口电路 | 第51-52页 |
4.3 基于Camera Link接口的数据采集模块 | 第52-56页 |
4.3.1 Camera Link接口电路 | 第53-54页 |
4.3.2 Camera Link接口协议模块 | 第54-55页 |
4.3.3 图像数据接收子模块 | 第55-56页 |
4.4 测试系统上位机软件的实现 | 第56-57页 |
4.5 本章小结 | 第57-59页 |
第五章 系统板级调试与太赫兹探测器测试结果 | 第59-72页 |
5.1 硬件平台性能分析 | 第59-63页 |
5.1.1 信号完整性分析 | 第59-61页 |
5.1.2 电源稳定性测试 | 第61-62页 |
5.1.3 Camera Link传输性能测试 | 第62-63页 |
5.1.3.1 眼图测试 | 第62-63页 |
5.1.3.2 传输速率测试 | 第63页 |
5.2 太赫兹探测器测试结果及分析 | 第63-69页 |
5.2.1 RMS时域噪声测试结果 | 第63-65页 |
5.2.2 固定图像噪声测试结果 | 第65-66页 |
5.2.3 探测器响应电压 | 第66-67页 |
5.2.4 响应率的测试结果 | 第67-68页 |
5.2.5 NEP的测试结果 | 第68页 |
5.2.6 太赫兹探测器测试结果分析 | 第68-69页 |
5.3 太赫兹测试系统整体效果 | 第69-71页 |
5.4 本章小结 | 第71-72页 |
第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
6.1 总结 | 第72-73页 |
6.2 展望 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-78页 |
攻读硕士学位期间取得的成果 | 第78-79页 |