摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
第1章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 选题依据 | 第9-11页 |
1.1.1 陶瓷基复合材料概述 | 第9页 |
1.1.2 CFCC-SiC成型工艺 | 第9-11页 |
1.1.3 陶瓷基复合材料的典型应用 | 第11页 |
1.2 CFCC-SiC缺陷类型及检测方法 | 第11-15页 |
1.2.1 CFCC-SiC常见缺陷 | 第11-13页 |
1.2.2 均匀性评价材料微观缺陷 | 第13页 |
1.2.3 陶瓷基复合材料缺陷检测方法 | 第13-15页 |
1.3 研究目标及内容 | 第15-17页 |
1.3.1 研究目标 | 第15页 |
1.3.2 研究内容 | 第15-17页 |
第2章 CFCC-SiC声学参量测试方法研究 | 第17-28页 |
2.1 CFCC-SiC声学特性 | 第17-21页 |
2.1.1 CFCC-SiC声学各向异性 | 第17-19页 |
2.1.2 CFCC-SiC不均匀性 | 第19页 |
2.1.3 CFCC-SiC衰减特性 | 第19-21页 |
2.2 声学参量系统改进 | 第21-27页 |
2.2.1 声速测量方法改进 | 第21-24页 |
2.2.2 声衰减测量方法改进 | 第24-27页 |
2.3 本章小结 | 第27-28页 |
第3章 CFCC-SiC声学参量表征材料特性 | 第28-46页 |
3.1 CFCC-SiC声速评价材料均匀性 | 第28-35页 |
3.1.1 CFCC-SiC声速评价材料均匀性理论基础 | 第28-30页 |
3.1.2 声速表征材料密度均匀性 | 第30-34页 |
3.1.3 声速表征材料密度均匀性准确性验证 | 第34-35页 |
3.2 CFCC-SiC声衰减评价材料均匀性 | 第35-40页 |
3.2.1 CFCC-SiC声衰减评价材料均匀性理论基础 | 第35-37页 |
3.2.2 声衰减表征材料密度均匀性 | 第37-40页 |
3.3 金相显微照相法验证 | 第40-45页 |
3.3.1 金相显微试样制备 | 第40-41页 |
3.3.2 金相显微镜观察 | 第41-45页 |
3.4 本章小结 | 第45-46页 |
第4章 CFCC-SiC超声信号频域特性分析 | 第46-59页 |
4.1 CFCC-SiC超声频域分析基本原理与方法 | 第46-48页 |
4.1.1 基于离散傅里叶变换的谱分析 | 第46-48页 |
4.1.2 CFCC-SiC频域分析理论基础 | 第48页 |
4.2 CFCC-SiC超声频谱分析 | 第48-50页 |
4.3 非线性超声基本理论 | 第50-53页 |
4.3.1 接触非线性基本理论 | 第51页 |
4.3.2 谐波产生基本理论 | 第51-52页 |
4.3.3 分谐波基本原理 | 第52-53页 |
4.4 RAM5000SNAP非线性超声测试系统 | 第53-55页 |
4.5 SNAP非线性超声测试系统测量结果 | 第55-58页 |
4.6 本章小结 | 第58-59页 |
第5章 CFCC-SiC缺陷检测 | 第59-73页 |
5.1 CFCC-SiC缺陷超声检测方法研究 | 第59-64页 |
5.1.1 基于脉冲反射法F扫水浸系统自动扫描 | 第59-61页 |
5.1.2 穿透法基本理论 | 第61-62页 |
5.1.3 基于穿透法F扫水浸系统自动扫描结果 | 第62-64页 |
5.2 CFCC-SiC缺陷CR射线检测方法研究 | 第64-66页 |
5.2.1 CR射线检测基本理论 | 第65页 |
5.2.2 CR射线检测结果 | 第65-66页 |
5.3 CFCC-SiC缺陷空气耦合检测技术 | 第66-68页 |
5.3.1 空气耦合检测技术基本理论 | 第66-67页 |
5.3.2 空气耦合检测技术结果 | 第67-68页 |
5.4 CFCC-SiC缺陷扫描电镜 | 第68-71页 |
5.4.1 扫描电子显微镜基本理论 | 第68页 |
5.4.2 扫描电子显微镜检测结果 | 第68-71页 |
5.5 本章小结 | 第71-73页 |
第6章 总结与展望 | 第73-76页 |
6.1 总结 | 第73-74页 |
6.2 展望 | 第74-76页 |
参考文献 | 第76-80页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第80-81页 |
致谢 | 第81-82页 |