可控源电磁探测正交检测技术研究
| 中文摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-18页 |
| ·引言 | 第13页 |
| ·研究背景与意义 | 第13-15页 |
| ·研究背景 | 第13-14页 |
| ·研究意义 | 第14-15页 |
| ·研究现状 | 第15-17页 |
| ·国外研究现状 | 第15-16页 |
| ·国内研究现状 | 第16-17页 |
| ·论文研究内容与结构 | 第17-18页 |
| 第2章 正交检测理论研究 | 第18-29页 |
| ·可控源电磁探测原理 | 第18-19页 |
| ·实时监测原理 | 第19-21页 |
| ·正交检测原理 | 第21-24页 |
| ·传统正交检测技术分析 | 第24-26页 |
| ·改进的正交检测技术 | 第26-29页 |
| 第3章 匹配采样电路的设计 | 第29-35页 |
| ·匹配低通滤波器设计 | 第29-30页 |
| ·匹配低通滤波器的影响分析 | 第30-32页 |
| ·匹配高通滤波器设计 | 第32页 |
| ·高通特性大地介质分析 | 第32-35页 |
| 第4章 数据采集及转换 | 第35-40页 |
| ·系统硬件设计 | 第35-37页 |
| ·供电电源部分设计 | 第35-36页 |
| ·数据采集芯片选取 | 第36-37页 |
| ·AD采集及转换设计 | 第37-40页 |
| ·AD676的自动校准 | 第37-38页 |
| ·AD676的转换控制 | 第38-39页 |
| ·AD676的时序控制 | 第39-40页 |
| 第5章 正交检测技术研究 | 第40-50页 |
| ·匹配采样技术 | 第40-43页 |
| ·降采样要求 | 第40页 |
| ·取样积分技术 | 第40-42页 |
| ·采样点数选取原则 | 第42-43页 |
| ·正交检测技术 | 第43-47页 |
| ·正交检测运算 | 第43-44页 |
| ·FPGA控制和数据处理 | 第44-47页 |
| ·系统同步技术 | 第47-50页 |
| 第6章 实验测试与分析 | 第50-60页 |
| ·系统性能测试 | 第50-54页 |
| ·低通性能测试 | 第50-52页 |
| ·高通特性测试 | 第52-54页 |
| ·同步结果测试 | 第54-56页 |
| ·同步误差分析 | 第54-55页 |
| ·同步测试结果 | 第55-56页 |
| ·正交检测误差分析 | 第56-60页 |
| 第7章 全文总结 | 第60-62页 |
| ·研究工作成果 | 第60-61页 |
| ·进一步研究建议 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-68页 |
| 附录A 带低通的仿真原理图 | 第68-69页 |
| 附录B 带高通和低通的仿真原理图 | 第69-70页 |
| 学术论文与科研成果 | 第70-71页 |
| 作者简介 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
