一种高精度温度补偿晶体振荡器的算法研究及电路实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·项目研究背景 | 第9-10页 |
| ·晶体振荡器的分类 | 第10-11页 |
| ·温度补偿晶体振荡器的发展 | 第11-13页 |
| ·论文的研究成果和章节安排 | 第13-15页 |
| 第二章 石英晶体特性以及温度补偿方案 | 第15-29页 |
| ·石英晶体的基本特性 | 第15-16页 |
| ·介绍石英晶体的等效模型 | 第16-19页 |
| ·晶体振荡电路分析 | 第19-24页 |
| ·振荡器工作原理 | 第19-20页 |
| ·石英晶体振荡电路 | 第20-22页 |
| ·晶体振荡器的重要指标 | 第22-24页 |
| ·温度补偿方案 | 第24-27页 |
| ·模拟补偿晶体振荡器(ATCXO ) | 第24-26页 |
| ·数字补偿晶体振荡器(DTCXO ) | 第26页 |
| ·微处理器晶体振荡器(MCXO) | 第26-27页 |
| ·小节 | 第27-29页 |
| 第三章 芯片系统设计方案 | 第29-35页 |
| ·芯片整体描述 | 第29-30页 |
| ·芯片特点 | 第29页 |
| ·芯片主要引脚定义 | 第29-30页 |
| ·芯片系统设计方案 | 第30-32页 |
| ·芯片补偿算法 | 第30-31页 |
| ·芯片系统框图和子模块划分 | 第31-32页 |
| ·芯片修调数据的校正 | 第32-33页 |
| ·小结 | 第33-35页 |
| 第四章 温度补偿算法的电路实现及仿真验证 | 第35-55页 |
| ·基准电路 | 第35-40页 |
| ·带隙基准的基本原理 | 第35-36页 |
| ·基准电路的实现 | 第36-37页 |
| ·偏置电路和电压转换电路的设计 | 第37-38页 |
| ·基准电路设计中其他注意的问题 | 第38-39页 |
| ·基准的仿真 | 第39-40页 |
| ·补偿电压的产生 | 第40-46页 |
| ·三次方电压产生电路 | 第40-43页 |
| ·四次方电压产生电路 | 第43-44页 |
| ·五次方电压产生电路 | 第44-46页 |
| ·加和电路 | 第46-47页 |
| ·压控晶体振荡器 | 第47-51页 |
| ·晶振主振荡电路设计 | 第47-49页 |
| ·自动增益控制(AGC)电路的设计 | 第49-50页 |
| ·输出模块 | 第50-51页 |
| ·修调电路 | 第51-52页 |
| ·整体电路的仿真与验证 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 第五章 温度补偿晶体振荡器的版图设计及验证 | 第55-59页 |
| ·BiCMOS 工艺简介 | 第55-56页 |
| ·版图设计规则 | 第56-58页 |
| ·温度补偿晶体振荡器版图布局与设计 | 第58-59页 |
| 第六章 总结与展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-68页 |
