| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| ·概述 | 第8-10页 |
| ·预备知识 | 第10-14页 |
| ·Bayes 估计 | 第10页 |
| ·Linex 损失函数下的 Bayes 估计 | 第10-11页 |
| ·先验分布的选择 | 第11-12页 |
| ·经验 Bayes 估计 | 第12-14页 |
| 2 Linex 损失下指数分布的 Bayes 估计及性质 | 第14-18页 |
| ·Linex 损失下参数λ的 Bayes 估计 | 第14-15页 |
| ·Linex 损失下参数λ的多层 Bayes 估计 | 第15页 |
| ·Linex 损失下 Bayes 估计的可容许性 | 第15-16页 |
| ·Linex 损失下经验 Bayes 估计的收敛速度 | 第16-18页 |
| 3 Linex 损失下指数-泊松分布的 Bayes 估计及性质 | 第18-25页 |
| ·指数-泊松分布(EP) | 第18-19页 |
| ·Linex 损失下指数-泊松分布参数的 Bayes 估计 | 第19-20页 |
| ·Linex 损失下经验 Bayes 估计的收敛速度 | 第20-24页 |
| ·经验 Bayes 估计的构造 | 第20-21页 |
| ·经验 Bayes 估计的收敛速度 | 第21-22页 |
| ·定理 | 第22-24页 |
| ·举例 | 第24页 |
| ·Linex 损失下 Bayes 估计的可容许性 | 第24-25页 |
| 4 Linex 损失下对数正态分布的 Bayes 估计及性质 | 第25-33页 |
| ·对数正态分布参数的 Bayes 估计 | 第25-27页 |
| ·Linex 损失下 Bayes 估计的可容许性 | 第27页 |
| ·Linex 损失下经验 Bayes 估计的收敛速度 | 第27-29页 |
| ·应用举例 | 第29-33页 |
| ·对数正态场合下半导体器件寿命的 Bayes 可靠性评估 | 第29-31页 |
| ·例子 | 第31-33页 |
| 5 Linex 损失下与平方损失下 Bayes 估计的比较 | 第33-36页 |
| ·指数分布参数 | 第33-34页 |
| ·平方损失下的 Bayes 估计 | 第33页 |
| ·模拟比较 | 第33-34页 |
| ·指数-泊松分布参数 | 第34页 |
| ·平方损失下的 Bayes 估计 | 第34页 |
| ·模拟比较 | 第34页 |
| ·对数正态分布参数 | 第34-36页 |
| ·平方损失下的 Bayes 估计 | 第34-35页 |
| ·模拟比较 | 第35-36页 |
| 总结与展望 | 第36-37页 |
| 致谢 | 第37-38页 |
| 参考文献 | 第38-41页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第41页 |
