SOC系统中闪存控制器的设计与验证
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·课题的背景及研究意义 | 第7页 |
| ·SOC 基本概念及特点 | 第7-9页 |
| ·NAND 闪存简介 | 第9-10页 |
| ·NAND FLASH 在手机芯片中的应用 | 第10页 |
| ·本论文研究意义及内容 | 第10-13页 |
| 第二章 NAND FLASH存储器 | 第13-25页 |
| ·NAND FLASH 基本结构 | 第13-17页 |
| ·NAND Flash 的物理结构 | 第13-14页 |
| ·NAND Flash Cell 结构 | 第14-16页 |
| ·NAND Flash 的寻址方式 | 第16-17页 |
| ·NAND FLASH 的接口设计 | 第17-18页 |
| ·ONFI 器件 | 第18-19页 |
| ·NAND FLASH 的访问时序解析 | 第19-23页 |
| ·擦除、写和读操作 | 第21-22页 |
| ·页寄存器(page register) | 第22页 |
| ·内拷贝操作(copy-back) | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 NANDCTRL主控逻辑模块设计 | 第25-39页 |
| ·NANDCTRL 控制器主要功能 | 第25页 |
| ·NANDCTRL 主模块架构 | 第25-29页 |
| ·控制器的命令/状态寄存器设计 | 第29-31页 |
| ·NANDCTRL 在 SOC 系统中的架构设计 | 第31-33页 |
| ·NANDCTRL 接口设计 | 第33-37页 |
| ·AMBA AHB 总线简介 | 第33-35页 |
| ·AMBA AXI 总线简介 | 第35-37页 |
| ·ECC 纠错模块 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 NANDCTRL验证平台设计 | 第39-51页 |
| ·基于功能点的验证计划 | 第39-40页 |
| ·验证环境与平台设计 | 第40-49页 |
| ·验证策略 | 第40-43页 |
| ·平台架构 | 第43-44页 |
| ·测试平台设计 | 第44-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第五章 验证实现 | 第51-61页 |
| ·功能性验证 | 第51-57页 |
| ·非功能性验证 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-61页 |
| 第六章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 研究成果 | 第67-68页 |