低孔渗含钙砂泥岩薄互层电阻率求真处理方法
中文摘要 | 第1-3页 |
Abstract | 第3-4页 |
目录 | 第4-6页 |
第1章 绪论 | 第6-11页 |
·区域地质概况 | 第6-7页 |
·沉积特征 | 第6页 |
·储层特征 | 第6-7页 |
·流体分布特征 | 第7页 |
·双侧向测井岩性校正的目的和意义 | 第7页 |
·当前应用情况 | 第7-9页 |
·国内外研究现状及发展方向 | 第7-8页 |
·现有技术问题分析 | 第8-9页 |
·本次研究的基本方法 | 第9-10页 |
·校正效果及今后改进方向 | 第10-11页 |
第2章 泥质砂岩含水饱和度模型考察 | 第11-15页 |
·饱和度模型简介 | 第11页 |
·饱和度模型适应性分析 | 第11-15页 |
·阿尔奇模型 | 第12-13页 |
·W-S模型 | 第13页 |
·D-W模型 | 第13-14页 |
·S-B模型 | 第14-15页 |
第3章 双侧向测井基本原理 | 第15-19页 |
·模型双侧向测井基本原理 | 第15-16页 |
·侧向测井视电阻率曲线特征及校正 | 第16-17页 |
·侧向测井与普通电阻率测井效果比较 | 第17-19页 |
第4章 回归分析原理 | 第19-24页 |
·回归分析的概念及解决的问题 | 第19-20页 |
·回归分析的概念 | 第19页 |
·回归分析解决的问题 | 第19-20页 |
·多元线性回归分析 | 第20-23页 |
·多元线性回归的数学模型 | 第20页 |
·确定回归系数 | 第20-21页 |
·回归检验 | 第21-23页 |
·非线性回归分析 | 第23-24页 |
第5章 电阻率校正方法及实现 | 第24-37页 |
·电阻率测井井眼校正 | 第24-26页 |
·经典井眼校正图板拟合 | 第24-25页 |
·井眼校正的实现 | 第25-26页 |
·储层参数的测井解释方法研究 | 第26-33页 |
·校正的基本原理 | 第26-27页 |
·孔隙度的求取方法 | 第27-29页 |
·钙质含量的计算 | 第29-31页 |
·泥质含量的计算 | 第31-33页 |
·电阻率岩性校正模型的建立 | 第33页 |
·建立视电阻率回归模型 | 第33-37页 |
·建立电阻率岩性校正模型 | 第36-37页 |
第6章 校正效果的分析对比 | 第37-39页 |
·含水饱和度的计算 | 第37-38页 |
·胶结指数的计算 | 第37-38页 |
·含水饱和度的计算 | 第38页 |
·校正效果的分析 | 第38-39页 |
结论 | 第39-40页 |
参考文献 | 第40-46页 |
致谢 | 第46-47页 |