基于嵌入式核测试复用的数字SOC测试技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-10页 |
| ·核测试复用技术的研究背景及意义 | 第7-8页 |
| ·国内外的研究现状 | 第8-9页 |
| ·本课题的研究内容 | 第9页 |
| ·本章小结 | 第9-10页 |
| 第二章 嵌入式核测试复用技术 | 第10-20页 |
| ·IEEE P1500 标准的结构与规范 | 第10-17页 |
| ·IEEE P1500 核测试壳 | 第10-12页 |
| ·IEEE P1500 标准测试结构 | 第12-15页 |
| ·核测试语言（CTL） | 第15-17页 |
| ·嵌入式核的测试类型 | 第17页 |
| ·嵌入式核的测试指令集 | 第17-18页 |
| ·嵌入式核的故障模型 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 数字SOC 测试系统的体系结构设计 | 第20-25页 |
| ·数字SOC 测试系统的设计目标 | 第20页 |
| ·数字SOC 测试系统的硬件体系结构设计 | 第20-22页 |
| ·数字SOC 测试系统的软件体系结构设计 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第四章 测试控制器设计 | 第25-36页 |
| ·控制器结构设计 | 第25-27页 |
| ·控制器的逻辑设计与实现 | 第27-34页 |
| ·内部寄存器设计 | 第28-34页 |
| ·逻辑控制模块 | 第34页 |
| ·顶层模块 | 第34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第五章 测试软件设计 | 第36-53页 |
| ·结构设计 | 第36-37页 |
| ·文本编译模块设计 | 第37-45页 |
| ·TTD 文件编译 | 第38-41页 |
| ·CTL 文件编译 | 第41-42页 |
| ·EDIF 文件编译 | 第42-45页 |
| ·测试生成模块设计 | 第45-49页 |
| ·功能测试矢量生成 | 第45-47页 |
| ·互连测试矢量生成 | 第47-48页 |
| ·完备测试矢量生成 | 第48页 |
| ·内建自测试矢量生成 | 第48-49页 |
| ·故障诊断模块设计 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 测试验证 | 第53-65页 |
| ·SOC 测试流程 | 第53页 |
| ·DEMO 电路介绍 | 第53-55页 |
| ·DEMO 电路测试 | 第55-64页 |
| ·扫描链的基础测试 | 第55-57页 |
| ·功能测试 | 第57-61页 |
| ·互连测试 | 第61-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第七章 结论和进一步的工作 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 附录A 硬件电路图 | 第71-72页 |
| 附录B 接口电路部分程序 | 第72-74页 |
| 附录C 测试控制器顶层部分代码 | 第74-77页 |
| 附录D 测试软件部分类定义 | 第77-81页 |
| 附录E TTD 用户测试描述文件 | 第81-82页 |
| 附录F 串行机制功能测试矢量输入文件 | 第82页 |
