PTCR综合性能测试仪的研制
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| ·PTCR的基本概念 | 第8页 |
| ·PTCR的应用 | 第8-11页 |
| ·开关保护 | 第8-10页 |
| ·发热保护 | 第10-11页 |
| ·PTCR的电性能介绍 | 第11-13页 |
| ·PTCR测试设备的研究意义及研究现状 | 第13页 |
| ·PTCR测试设备的技术难点 | 第13-14页 |
| ·本文的要求和主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 PTCR测试系统 | 第16-24页 |
| ·系统的总体设计 | 第16页 |
| ·系统的主要功能测试模块 | 第16-24页 |
| ·多工位设计 | 第17页 |
| ·电阻－温度特性测试 | 第17-19页 |
| ·电流－时间特性测试 | 第19-20页 |
| ·耐工频电流测试 | 第20-24页 |
| 第三章 系统硬件设计与实现 | 第24-42页 |
| ·单片机整体设计 | 第24页 |
| ·电源电路设计 | 第24-25页 |
| ·上位机与单片机的串行通信 | 第25-26页 |
| ·信号调理电路 | 第26-30页 |
| ·数据采集部分 | 第30-34页 |
| ·继电器驱动电路 | 第34-36页 |
| ·键盘与显示 | 第36-38页 |
| ·硬件电路抗干扰技术 | 第38-42页 |
| 第四章 系统软件设计与实现 | 第42-58页 |
| ·系统软件的组成及其工作过程 | 第42页 |
| ·单片机控制系统程序设计 | 第42-48页 |
| ·单片机与上位机的通信 | 第48-55页 |
| ·通讯协议的设定 | 第48-50页 |
| ·单片机串行通信程序 | 第50-52页 |
| ·上位机串行通信程序 | 第52-55页 |
| ·测试结果 | 第55-58页 |
| 第五章 温度测控系统 | 第58-78页 |
| ·铂电阻测温原理 | 第58-59页 |
| ·铂电阻测温方法 | 第59-63页 |
| ·温度测量电路 | 第61-62页 |
| ·信号调理电路 | 第62-63页 |
| ·铂电阻非线性补偿 | 第63-64页 |
| ·A/D的选择 | 第64-66页 |
| ·加热控制电路 | 第66-70页 |
| ·软件设计 | 第70-78页 |
| ·PID算法 | 第70-75页 |
| ·温度控制器通讯协议 | 第75-78页 |
| 第六章 总结 | 第78-80页 |
| ·本论文所作的工作 | 第78页 |
| ·展望 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 作者在学期间发表的论文 | 第84页 |
