功率集成电路中的闩锁效应研究

摘要	第1-5页
Abstract	第5-7页
绪论	第7-10页
第一章 CMOS 电路中的闩锁结构	第10-18页
·CMOS 电路中闩锁效应的产生背景	第10页
·CMOS 电路中闩锁建模及理论分析	第10-16页
·CMOS 电路中抗闩锁方法	第16-18页
第二章 功率驱动芯片中的闩锁失效分析	第18-26页
·功率驱动芯片中低压电路闩锁失效分析	第18-19页
·功率驱动芯片中高压电路闩锁失效分析	第19-22页
·ESD 保护电路中的闩锁失效分析	第22-26页
第三章 功率驱动芯片中闩锁失效的软件模拟	第26-38页
·低压CMOS 结构的闩锁模拟	第26-32页
·高低压电路之间抗闩锁模拟	第32-38页
第四章 功率驱动芯片抗闩锁版图改进	第38-44页
·功率驱动芯片中抗闩锁的整体版图布局改进	第38-39页
·功率驱动芯片中低压部分抗闩锁版图改进	第39-42页
·功率驱动芯片中高低压部分抗闩锁的版图改进	第42-43页
·抗闩锁版图设计规则	第43-44页
第五章 闩锁测试分析	第44-49页
·闩锁特性测试	第44-45页
·功率驱动芯片闩锁的静态测试	第45-47页
·功率驱动芯片的实际测试	第47-49页
总结及展望	第49-51页
参考文献	第51-55页
致谢	第55-56页
硕士期间取得的成果	第56页