数字信号处理器MD16验证研究
| 绪论 | 第1-20页 |
| ·引言 | 第5页 |
| ·DSP处理器的发展简史和应用领域 | 第5-7页 |
| ·DSP的结构特点和发展趋势 | 第7-11页 |
| ·可测试性设计技术 | 第11-13页 |
| ·内建自测试技术 | 第11-12页 |
| ·基于扫描技术的结构化测试方法 | 第12-13页 |
| ·功能点测试技术 | 第13页 |
| ·MD16 DSP的可测试性设计方法 | 第13-15页 |
| ·MD16软硬件协同仿真验证 | 第15-17页 |
| ·本文研究意义、结构安排以及创新点 | 第17-19页 |
| 参考文献 | 第19-20页 |
| 第二章 基于可编程性的MD16 DSP验证 | 第20-41页 |
| ·MD16体系结构特点 | 第20-24页 |
| ·MD16指令集特点 | 第24-28页 |
| ·指令集设计的原则 | 第25页 |
| ·MD16指令集选择及优点 | 第25-28页 |
| ·基本指令集测试 | 第28-34页 |
| ·指令树遍历 | 第29-31页 |
| ·指令集验证测试方法 | 第31页 |
| ·自动测试程序产生及优化 | 第31-32页 |
| ·自动测试的一个例子 | 第32-33页 |
| ·指令集测试结果和结论 | 第33-34页 |
| ·状态机测试程序产生 | 第34-39页 |
| ·状态机覆盖率 | 第34-35页 |
| ·遍历状态机 | 第35-37页 |
| ·状态机遍历的确认 | 第37-38页 |
| ·状态机覆盖率计算的一个实例 | 第38-39页 |
| ·本节实验结果 | 第39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 参考文献 | 第40-41页 |
| 第三章 MD16可测试性设计 | 第41-61页 |
| ·JTAG基本原理 | 第41-43页 |
| ·边界扫描原理 | 第41-42页 |
| ·JTAG结构 | 第42-43页 |
| ·DSP处理器可测性问题及可测试特点 | 第43-44页 |
| ·DSP处理器可测性面临的问题 | 第43页 |
| ·MD16 DSP处理器可测试特点 | 第43-44页 |
| ·MD16 DSP可测试性设计 | 第44-57页 |
| ·TAP控制器 | 第48页 |
| ·测试指令寄存器 | 第48-50页 |
| ·串并转化电路 | 第50-52页 |
| ·被测单元的包装实现 | 第52-53页 |
| ·调试模块 | 第53-54页 |
| ·跟踪模块 | 第54-55页 |
| ·存储器模块 | 第55页 |
| ·边界扫描链 | 第55-57页 |
| ·实验结果 | 第57-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-61页 |
| 第四章 MD16软硬件协同验证及可重构平台 | 第61-90页 |
| ·MD16软硬件协同验证概述 | 第61-64页 |
| ·MD16验证概述 | 第61-62页 |
| ·MD16软硬件协同验证平台构成 | 第62-64页 |
| ·可重构软硬件协同验证平台构建流程 | 第64-65页 |
| ·可重构软硬件协同验证平台软硬件划分 | 第65-66页 |
| ·软件验证平台的设计 | 第66-72页 |
| ·软件平台非层次化设计带来的问题 | 第66-67页 |
| ·可重用性软件平台设计方法 | 第67-68页 |
| ·软件平台功能验证 | 第68-72页 |
| ·硬件验证平台的设计 | 第72-84页 |
| ·硬件验证平台设计必要性及可重用性 | 第72-73页 |
| ·硬件平台的设计 | 第73-84页 |
| ·试验结果 | 第84-88页 |
| ·MD16 DSP测试程序 | 第86-88页 |
| ·本章小结 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-90页 |
| 作者攻读硕士期间发表的论文 | 第90-91页 |
| 致谢 | 第91页 |
