中文摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·引言 | 第7页 |
·有机绝缘材料表面漏电痕迹 | 第7-9页 |
·漏电痕迹的概念 | 第7-8页 |
·漏电痕迹研究的历史和现状 | 第8-9页 |
·表面电痕破坏的理论分析 | 第9-11页 |
·起始状态 | 第9页 |
·电痕破坏过程 | 第9-10页 |
·侵蚀过程 | 第10-11页 |
·论文的主要工作及创新点 | 第11-12页 |
·全文总结 | 第12-13页 |
第二章 分形和混沌的基本理论 | 第13-27页 |
·分形理论简介 | 第13-14页 |
·分形的定义与分形维数 | 第14-20页 |
·豪斯道夫维数 | 第15-16页 |
·盒维数 | 第16-17页 |
·信息维数 | 第17页 |
·关联维数 | 第17-18页 |
·分形维数的测定 | 第18-20页 |
·混沌理论简介 | 第20-24页 |
·混沌时间序列的特征分析 | 第24-27页 |
·相空间重构的理论基础 | 第24-26页 |
·混沌时间序列的特征量 | 第26-27页 |
第三章 有机绝缘材料漏电痕实验系统 | 第27-34页 |
·实验材料简介 | 第27-29页 |
·酚醛胶合板(Phenolic Laminate) | 第27页 |
·环氧树脂(Epoxy Resin) | 第27-28页 |
·聚对苯二甲酸乙二酯(PET) | 第28-29页 |
·实验标准和实验设备 | 第29-32页 |
·实验方法和步骤 | 第32-34页 |
第四章 有机绝缘材料放电特征的提取和分析 | 第34-49页 |
·分形与混沌在放电特征提取和分析上的应用 | 第34-38页 |
·互信息量法求时间延迟 | 第34-35页 |
·时间序列的相空间重构 | 第35-36页 |
·饱和关联维数法 | 第36-38页 |
·酚醛胶合板(PL)放电特征的提取和分析 | 第38-45页 |
·环氧树脂(EX)的放电特征分析 | 第45-49页 |
·聚对苯二甲酸乙二酯(PET)的放电特征分析 | 第46-49页 |
第五章 本文结论和研究展望 | 第49-51页 |
·本文结论 | 第49页 |
·研究展望 | 第49-51页 |
参考文献 | 第51-54页 |
发表论文和科研情况说明 | 第54-55页 |
致谢 | 第55页 |