铁磁材料巴氏噪声应力硬度检测仪的研制
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-17页 |
| ·本课题研究的目的和意义 | 第13页 |
| ·目前常用的各种检测方法 | 第13-15页 |
| ·X-射线法 | 第14页 |
| ·电阻应变片法 | 第14页 |
| ·超声波法 | 第14页 |
| ·光测法 | 第14页 |
| ·机械测量法 | 第14页 |
| ·磁巴克毫森噪声法 | 第14-15页 |
| ·巴氏噪声信号的研究状况 | 第15-17页 |
| 第二章 理论基础 | 第17-28页 |
| ·磁畴 | 第17页 |
| ·磁化 | 第17-22页 |
| ·引言 | 第17-19页 |
| ·可逆磁化过程 | 第19页 |
| ·不可逆磁化过程 | 第19-22页 |
| ·不可逆壁移磁化 | 第20-21页 |
| ·不可逆转动磁化 | 第21-22页 |
| ·巴氏噪声信号产生的机理 | 第22-25页 |
| ·影响巴氏噪声信号的因素的研究 | 第25-28页 |
| ·材料性质 | 第25-26页 |
| ·磁化强度 | 第26-28页 |
| 第三章 仪器的研制 | 第28-77页 |
| ·引言 | 第28-29页 |
| ·传感器 | 第28页 |
| ·变换器 | 第28-29页 |
| ·显示器 | 第29页 |
| ·传输通道 | 第29页 |
| ·整机框图 | 第29-30页 |
| ·激励电路 | 第30-35页 |
| ·信号发生器 | 第30-32页 |
| ·功率放大器 | 第32-35页 |
| ·传感器 | 第35-48页 |
| ·磁化器 | 第36-44页 |
| ·磁化器的工作原理 | 第36页 |
| ·磁化器的制作 | 第36-44页 |
| ·磁化器的设计、制作 | 第36-38页 |
| ·磁化器场强分布的测定 | 第38-44页 |
| ·接收器 | 第44页 |
| ·前置放大器 | 第44-48页 |
| ·滤波电路 | 第48-52页 |
| ·主放大电路 | 第52页 |
| ·峰值检波电路 | 第52-53页 |
| ·单片机部分 | 第53-77页 |
| ·引言 | 第53页 |
| ·外部存储器扩展 | 第53-55页 |
| ·程序存储器EPROM的扩展 | 第53页 |
| ·数据存储器的扩展 | 第53-55页 |
| ·A/D转换器接口电路 | 第55-59页 |
| ·显示接口电路 | 第59-65页 |
| ·LED显示器工作原理 | 第59-60页 |
| ·8279显示接口电路 | 第60-65页 |
| ·8279的引脚及内部结构 | 第60-62页 |
| ·8279控制字与状态字 | 第62-64页 |
| ·8031～8279显示器接口 | 第64-65页 |
| ·抗扰复位电路 | 第65-66页 |
| ·存储器和接口芯片地址分配 | 第66-67页 |
| ·软件设计 | 第67-77页 |
| ·引言 | 第67-69页 |
| ·硬件调试 | 第68页 |
| ·软件调试 | 第68页 |
| ·硬件、软件联合调试 | 第68-69页 |
| ·主程序 | 第69页 |
| ·采样子程序 | 第69-70页 |
| ·计算子程序 | 第70-74页 |
| ·显示子程序 | 第74-77页 |
| 第四章 应力和硬度的检测 | 第77-88页 |
| ·应力的检测 | 第77-79页 |
| ·实验仪器 | 第77页 |
| ·测试内容 | 第77-78页 |
| ·拉应力实验 | 第77页 |
| ·压应力实验 | 第77-78页 |
| ·曲线拟合 | 第78-79页 |
| ·结论 | 第79页 |
| ·硬度的检测 | 第79-82页 |
| ·实验仪器 | 第79-80页 |
| ·测试内容 | 第80页 |
| ·曲线拟合 | 第80-82页 |
| ·误差分析 | 第82-86页 |
| ·系统误差 | 第84-86页 |
| ·恒值系差的判别方法 | 第84-85页 |
| ·变值系差的判别方法 | 第85页 |
| ·消除或减小系统误差的途径 | 第85-86页 |
| ·随机误差 | 第86页 |
| ·结论 | 第86-88页 |
| 参考文献 | 第88-93页 |
| 附录1 汇编语言程序源代码 | 第93-102页 |
| 致谢 | 第102-103页 |
| 攻读学位期间发表的论文目录 | 第103页 |
