| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 1 绪论 | 第10-28页 |
| 1．1 金属铍 | 第10-11页 |
| 1．2 铍材及其制品中的残余应力 | 第11页 |
| 1．3 残余应力的测定方法 | 第11-25页 |
| 1．3．1 机械测定法 | 第12-21页 |
| 1．3．2 物理测定法 | 第21-25页 |
| 1．4 课题研究的意义、内容及创新点 | 第25-28页 |
| 1．4．1 研究工作的意义 | 第25-26页 |
| 1．4．2 主要研究内容 | 第26页 |
| 1．4．3 研究工作的创新点 | 第26-28页 |
| 2 X射线残余应力测定原理和方法 | 第28-43页 |
| 2．1 二维残余应力测定原理及方法 | 第28-34页 |
| 2．1．1 测定原理 | 第28-30页 |
| 2．1．2 测定方法 | 第30-34页 |
| 2．2 三维残余应力及其深度分布的测定原理及方法 | 第34-39页 |
| 2．2．1 沿深度分布的应力测定—剥层法 | 第34-35页 |
| 2．2．2 X射线积分法（RIM） | 第35-38页 |
| 2．2．3 多波长法 | 第38-39页 |
| 2．3 现有X射线法在测定铍材残余应力及深度分布时存在的问题 | 第39-43页 |
| 2．3．1 常规X射线法存在的问题 | 第39-40页 |
| 2．3．2 美国X2001型X射线应力分析仪及其X2002软件存在的问题 | 第40-41页 |
| 2．3．3 多波长法存在的问题 | 第41-43页 |
| 3 X射线残余应力及其深度分布测定的层析扫描法 | 第43-56页 |
| 3．1 X射线层析扫描测定方法的基本思路 | 第43-44页 |
| 3．2 X射线层析扫描测定原理及方法 | 第44-48页 |
| 3．2．1 应变及应变梯度的计算 | 第44-45页 |
| 3．2．2 关于无应力晶面间距d_0 | 第45页 |
| 3．2．3 应力及应力梯度的计算 | 第45-47页 |
| 3．2．4 X射线有效穿透深度的计算 | 第47-48页 |
| 3．3 应力／应变计算的自我约束判据 | 第48-51页 |
| 3．3．1 线性相关系数R | 第48-49页 |
| 3．3．2 泊松比v | 第49-50页 |
| 3．3．3 误差 | 第50-51页 |
| 3．4 X射线残余应力层析扫描法的程序设计 | 第51-52页 |
| 3．5 实验验证结果 | 第52-56页 |
| 4 X射线残余应力及其深度分布测定的积分变换法 | 第56-69页 |
| 4．1 X射线积分变换法的原理及方法 | 第56-63页 |
| 4．1．1 X射线衍射分析残余应力深度分布的关系 | 第56-57页 |
| 4．1．2 深度与应力张量σ_（ij）之间关系 | 第57-62页 |
| 4．1．3 三维应力状态深度分布的计算 | 第62-63页 |
| 4．2 X射线积分变换法的程序设计 | 第63-64页 |
| 4．2．1 应力／应变计算的线性方程组求解方法 | 第63-64页 |
| 4．2．2 程序流程图及程序运行简述 | 第64页 |
| 4．3 实验验证结果 | 第64-69页 |
| 5 X射线残余应力层析扫描测量系统 | 第69-83页 |
| 5．1 概述 | 第69-70页 |
| 5．2 层析扫描测量台 | 第70-77页 |
| 5．2．1 技术要求 | 第70页 |
| 5．2．2 结构特点 | 第70-71页 |
| 5．2．3 规格 | 第71页 |
| 5．2．4 机械设计简述 | 第71-77页 |
| 5．3 锥度限位狭缝 | 第77-79页 |
| 5．4 X射线多旋转变量控制系统 | 第79-83页 |
| 5．4．1 X射线多旋转变量控制系统原理框图 | 第79页 |
| 5．4．2 X射线多旋转变量控制系统执行过程及操作简述 | 第79-83页 |
| 6 结论 | 第83-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-91页 |
| 附录A X射线层析扫描法计算机FORTRAN程序清单 | 第91-101页 |
| 附录B X射线积分变换法计算机程序Visual Basic源代码 | 第101-115页 |
| 附录C 作者在攻读博士学位期间发表论文及获奖情况 | 第115页 |
