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射频辉光放电等离子体空间特性的探针研究

中文摘要第1-6页
英文摘要第6-8页
一、 引言第8-12页
 1.1 等离子体在工业中的应用第8-9页
 1.2 等离子体诊断的必要性及存在的问题第9-12页
二、 等离子体物理学基础第12-18页
 2.1 等离子体中粒子的相互作用第12-14页
 2.2 等离子体的准中性第14-15页
 2.3 双极扩散效应与等离子体鞘层第15页
 2.4 直流辉光等离子体电位的轴向变化规律第15-16页
 2.5 电极自偏压效应第16-18页
三、 等离子体的静电探针诊断第18-24页
 3.1 探针理论的基本前提第18-19页
 3.2 探针Ⅰ-Ⅴ特性曲线获得等离子体参数的方法第19-24页
四、 等离子体加热机制第24-32页
 4.1 气体放电的击穿第24-25页
 4.2 直流辉光放电的主要过程第25-26页
 4.3 直流辉光放电等离子体的能量获得机制第26-30页
 4.4 射频辉光放电的电子加热模式第30-32页
五、 实验系统第32-35页
 5.1 实验系统的组成第32页
 5.2 探针中毒效应及射频干扰第32-33页
 5.3 半可动探针第33-35页
六、 数据分析及处理第35-40页
 6.1 数值滤波第35-36页
 6.2 傅立叶方法第36-38页
 6.3 数学软件ORIGIN5.0求二次微分第38-40页
七、 实验结果及讨论第40-46页
 7.1 等离子体电子浓度的轴向分布随功率的变化第40-43页
 7.2 等离子体电位的轴向变化规律第43-45页
 7.3 等离子体电子温度的轴向变化规律第45-46页
八、 结论第46-47页
致谢第47-48页
参考文献第48-49页

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