| 中文摘要 | 第1-8页 |
| 英文摘要 | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1．1 本课题研究的意义 | 第9-10页 |
| 1．2 高速ADC动态测试技术研究概况 | 第10-13页 |
| 1．3 本文的工作背景和结构安排 | 第13-15页 |
| 第二章 高速ADC动态特性分析 | 第15-31页 |
| 2．1 前言 | 第15页 |
| 2．2 高速ADC的结构对其动态性能的影响 | 第15-18页 |
| 2．3 周边电路对高速ADC动态性能的影响 | 第18-22页 |
| 2．4 高速ADC动态特性分析及动态参数定义 | 第22-30页 |
| 2．5 本章总结 | 第30-31页 |
| 第三章 高速ADC频域特性测试理论研究与实现 | 第31-45页 |
| 3．1 前言 | 第31页 |
| 3．2 基于DSP的高速ADC频域测试理论的研究 | 第31-35页 |
| 3．3 基于DSP的高速ADC频域测试系统 | 第35-40页 |
| 3．4 基于频域的ADC动态特性测试结果及分析 | 第40-44页 |
| 3．5 本章总结 | 第44-45页 |
| 第四章 高速ADC满功率带宽测试理论研究与实现 | 第45-55页 |
| 4．1 前言 | 第45页 |
| 4．2 高速ADC满功率带宽测试理论的研究 | 第45-48页 |
| 4．3 满功率带宽测试方法的实现 | 第48-51页 |
| 4．4 测试结果与讨论 | 第51-54页 |
| 4．5 本章总结 | 第54-55页 |
| 第五章 高速ADC微分相位、微分增益测试理论研究与实现 | 第55-64页 |
| 5．1 前言 | 第55-56页 |
| 5．2 高速ADC微分相位、微分增益测试理论的研究 | 第56-59页 |
| 5．3 高速ADC的DP、DG测试方法的实现 | 第59-60页 |
| 5．4 高速ADC微分增益、微分相位的测试 | 第60-63页 |
| 5．5 本章总结 | 第63-64页 |
| 第六章 高速ADC瞬态特性测试理论研究与实现 | 第64-73页 |
| 6．1 前言 | 第64页 |
| 6．2 影响高速ADC瞬态特性的主要因素 | 第64-66页 |
| 6．3 高速ADC的瞬态特性测试理论的研究 | 第66-67页 |
| 6．4 高速ADC瞬态特性测试方法的实现 | 第67-70页 |
| 6．5 利用等效时间采样法完成对高速ADC瞬态、过电压恢复时间的测试 | 第70-72页 |
| 6．6 本章总结 | 第72-73页 |
| 结束语 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 作者博士期间完成论文情况 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-84页 |
