| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·像增强器的发展历史 | 第10-12页 |
| ·国内像增强器技术研究现状 | 第12-13页 |
| ·像增强器选通技术 | 第13页 |
| ·本论文主要工作 | 第13-15页 |
| 第二章 选通型像增强器基本原理及选通方法 | 第15-21页 |
| ·选通型像增强器的系统组成及工作原理 | 第15-16页 |
| ·像增强器选通工作模式分类 | 第16-17页 |
| ·MCP 选通研究进展 | 第17-19页 |
| ·电子在MCP 微通道内获得倍增的理论分析 | 第17页 |
| ·MCP 选通模式下的高压高速脉冲生成 | 第17页 |
| ·选通脉冲在MCP 内传播时的畸变 | 第17-18页 |
| ·选通脉冲的宽度与MCP 实际增益宽度的关系 | 第18-19页 |
| ·光阴极选通与MCP 选通的差别 | 第19-20页 |
| ·本章 小结 | 第20-21页 |
| 第三章 像增强器光阴极选通特性的动力学分析及其测试新方法 | 第21-40页 |
| ·二代选通型像增强器工作原理 | 第21-22页 |
| ·像增强器中光电子各子过程的理论分析 | 第22-30页 |
| ·子过程一：光阴极电场加速过程 | 第22-26页 |
| ·子过程二：MCP 电子倍增过程 | 第26-30页 |
| ·子过程三：阳极电场加速过程 | 第30页 |
| ·像增强器中光电子动态过程的综合分析 | 第30-32页 |
| ·选通特性测试新方法——光电互相关测量 | 第32-39页 |
| ·相关测量的基本原理和种类 | 第32-36页 |
| ·强度相关测量 | 第33-34页 |
| ·干涉相关测量 | 第34-36页 |
| ·相关测量的缺陷 | 第36-37页 |
| ·光电互相关测量新方法的物理学基础 | 第37-39页 |
| ·本章 小结 | 第39-40页 |
| 第四章 基于超短光脉冲的像增强器光阴极选通特性的实验研究 | 第40-74页 |
| ·基于超短光脉冲的光阴极选通特性互相关测量方法的原理、分析与实现 | 第40-65页 |
| ·选通特性总体测试系统方案分析 | 第40-42页 |
| ·光学子系统的原理、设计与实现 | 第42-48页 |
| ·飞秒光源 | 第42-44页 |
| ·精密延时模块 | 第44-45页 |
| ·APD 光电探测模块 | 第45-48页 |
| ·电学子系统的原理、设计与实现 | 第48-63页 |
| ·脉冲整形与放大模块 | 第48-58页 |
| ·分频器模块 | 第58-59页 |
| ·可调时延模块 | 第59-61页 |
| ·光阴极选通脉冲源 | 第61-63页 |
| ·选通特性综合测试系统 | 第63-65页 |
| ·选通特性测试设备 | 第65-67页 |
| ·宽带高速示波器 | 第65-66页 |
| ·高灵敏度可见光光功率计 | 第66-67页 |
| ·光阴极选通特性测试结果与分析 | 第67-71页 |
| ·光电互相关测量新方法与已有电测量方法的比较 | 第71-73页 |
| ·本章 小结 | 第73-74页 |
| 第五章 全文总结 | 第74-76页 |
| ·主要结论 | 第74-75页 |
| ·研究展望 | 第75-76页 |
| 附录一 光阴极选通特性测试流程 | 第76-79页 |
| 附录二 光阴极选通脉冲源研制工作 | 第79-85页 |
| 参考文献 | 第85-88页 |
| 致谢 | 第88-89页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第89-92页 |
| 上海交通大学学位论文答辩决议书 | 第92页 |
