面向片上存储应用的高性能抗辐射纠错码编码机制的研究与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-18页 |
| ·课题的研究背景和意义 | 第13-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-16页 |
| ·本课题的研究内容与目标 | 第16页 |
| ·本文的结构 | 第16-18页 |
| 第二章 辐射效应对片内存储器的影响 | 第18-28页 |
| ·辐射效应分析 | 第18-21页 |
| ·辐射效应对片内存储器的影响 | 第21-23页 |
| ·片内存储器中错误图样分析 | 第23-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 纠错码理论基础 | 第28-46页 |
| ·纠错码的工作原理 | 第28-31页 |
| ·存储器保护中常用纠错码理论基础 | 第31-39页 |
| ·线性分组码的基本概念 | 第32-34页 |
| ·生成矩阵G 和监督矩阵H | 第34-36页 |
| ·校验子S | 第36页 |
| ·常用的线性分组码 | 第36-39页 |
| ·符号纠错码理论基础 | 第39-45页 |
| ·RS 码 | 第39-40页 |
| ·伽罗华(Galois)域的定义与性质 | 第40-41页 |
| ·二元扩展域GF（2m ）和循环群的构成 | 第41-43页 |
| ·GF（2m ）域元素的运算 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 片内存储器保护中常用纠错码的研究与实现 | 第46-52页 |
| ·奇偶校验码的研究与实现 | 第46页 |
| ·扩展汉明码的研究与实现 | 第46-51页 |
| ·扩展汉明码的编码实现 | 第46-50页 |
| ·扩展汉明码的解码实现 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 符号纠错码算法与实现 | 第52-66页 |
| ·符号纠错码编码 | 第53-57页 |
| ·算法分析 | 第53-56页 |
| ·硬件实现 | 第56-57页 |
| ·符号纠错码解码 | 第57-65页 |
| ·算法分析 | 第57-62页 |
| ·硬件实现 | 第62-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 符号纠错码的性能分析 | 第66-77页 |
| ·仿真验证与结果分析 | 第66-74页 |
| ·存储器保护中常用纠错码的仿真验证 | 第66-70页 |
| ·符号纠错码编码的仿真验证 | 第70页 |
| ·符号纠错码解码的仿真验证 | 第70-74页 |
| ·仿真结果分析 | 第74页 |
| ·电路综合结果与分析 | 第74-75页 |
| ·整体性能分析 | 第75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 第七章 总结与展望 | 第77-78页 |
| ·本文总结 | 第77页 |
| ·课题展望 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 攻读硕士学位期间已发表的论文 | 第82页 |
