自适应采样光子计数线阵读出电路设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第10-17页 |
| 1.2.1 研究现状 | 第10-16页 |
| 1.2.2 发展趋势 | 第16-17页 |
| 1.3 研究内容与设计指标 | 第17-18页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第17页 |
| 1.3.2 设计指标 | 第17-18页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第18-19页 |
| 第二章 光子计数探测理论与实现方法 | 第19-35页 |
| 2.1 光子计数探测原理 | 第19-28页 |
| 2.1.1 日盲紫外光子传感特性 | 第19-21页 |
| 2.1.2 单光子探测器及其模型 | 第21-23页 |
| 2.1.3 光子计数探测技术 | 第23-24页 |
| 2.1.4 光子计数系统架构对比 | 第24-28页 |
| 2.2 光子计数读出电路系统评价指标 | 第28-30页 |
| 2.3 自适应采样光子计数读出电路系统设计 | 第30-34页 |
| 2.3.1 读出电路架构 | 第31-32页 |
| 2.3.2 读出电路关键控制时序 | 第32-34页 |
| 2.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第三章 光子计数读出电路设计 | 第35-55页 |
| 3.1 自适应采样光子计数线阵架构设计 | 第35-36页 |
| 3.2 模块电路设计与仿真 | 第36-49页 |
| 3.2.1 单像素电路 | 第36-45页 |
| 3.2.2 像素阵列 | 第45-46页 |
| 3.2.3 系统时序控制模块 | 第46-49页 |
| 3.3 测试激励电路设计 | 第49-51页 |
| 3.3.1 测试模式与探测模式切换 | 第49页 |
| 3.3.2 随机光子发生器 | 第49-51页 |
| 3.4 读出电路系统仿真及分析 | 第51-53页 |
| 3.5 本章小结 | 第53-55页 |
| 第四章 版图设计与系统验证 | 第55-67页 |
| 4.1 阵列版图布局布线 | 第55-56页 |
| 4.2 电路模块版图设计 | 第56-59页 |
| 4.2.1 单像素版图 | 第56-58页 |
| 4.2.2 像素阵列版图 | 第58-59页 |
| 4.2.3 系统时序控制模块版图 | 第59页 |
| 4.3 系统仿真验证 | 第59-64页 |
| 4.4 本章小结 | 第64-67页 |
| 第五章 芯片测试与结果分析 | 第67-83页 |
| 5.1 测试环境与平台 | 第67-70页 |
| 5.2 芯片测试 | 第70-79页 |
| 5.2.1 系统功能测试 | 第72-77页 |
| 5.2.2 系统性能测试 | 第77-79页 |
| 5.3 测试结果对比分析 | 第79-81页 |
| 5.4 本章小结 | 第81-83页 |
| 第六章 总结与展望 | 第83-85页 |
| 6.1 论文总结 | 第83-84页 |
| 6.2 论文展望 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-89页 |
| 致谢 | 第89-91页 |
| 攻读硕士学位期间的成果 | 第91页 |
