金属材料微观结构的计算机三维重构技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题目的与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 三维重构的必要性 | 第11-12页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.4 三维重构技术分类 | 第14-16页 |
| 第二章 二维图像的获取 | 第16-22页 |
| 2.1 非破坏性测量 | 第16-17页 |
| 2.1.1 MRI测量法 | 第16页 |
| 2.1.2 X射线断层摄影法 | 第16页 |
| 2.1.3 激光共焦扫描法 | 第16-17页 |
| 2.1.4 超声检测法 | 第17页 |
| 2.2 破坏性测量 | 第17-22页 |
| 2.2.1 单层图像的获取 | 第17-19页 |
| 2.2.2 连续图像的获取 | 第19-20页 |
| 2.2.3 切片厚度的确定 | 第20-22页 |
| 第三章 图像预处理 | 第22-44页 |
| 3.1 彩色图像灰度化 | 第23-24页 |
| 3.2 图像滤波 | 第24-29页 |
| 3.2.1 传统滤波算法 | 第25-27页 |
| 3.2.2 改进的滤波算法——各向异性-中值滤波 | 第27-28页 |
| 3.2.3 不同滤波方法的比较 | 第28-29页 |
| 3.3 形态学重建 | 第29-30页 |
| 3.4 阴影校正 | 第30-34页 |
| 3.4.1 同态滤波 | 第31-32页 |
| 3.4.2 空间域阴影校正 | 第32页 |
| 3.4.3 顶帽变换 | 第32-33页 |
| 3.4.4 三种校正方法的比较 | 第33-34页 |
| 3.5 灰度变换 | 第34-40页 |
| 3.5.1 全域线性变换 | 第34-35页 |
| 3.5.2 分段线性变换 | 第35-36页 |
| 3.5.3 非线性变换 | 第36-37页 |
| 3.5.4 混合变换 | 第37-40页 |
| 3.5.5 不同灰度变换方法的比较 | 第40页 |
| 3.6 图像分割 | 第40-44页 |
| 3.6.1 双阈值分割 | 第40-41页 |
| 3.6.2 脊检测 | 第41页 |
| 3.6.3 分水岭分割 | 第41-44页 |
| 第四章 基于表面绘制的三维重构 | 第44-52页 |
| 4.1 传统MC算法 | 第44-47页 |
| 4.1.1 含等值面体元的确定 | 第45-46页 |
| 4.1.2 等值面的剖分 | 第46-47页 |
| 4.1.3 等值点与法向量的计算 | 第47页 |
| 4.2 改进MC算法 | 第47-49页 |
| 4.2.1 中点法求等值面的交点 | 第47-49页 |
| 4.2.2 非空体元的确定 | 第49页 |
| 4.3 改进前后重构效果及时间的比较 | 第49-52页 |
| 第五章 基于体绘制的三维重构 | 第52-70页 |
| 5.1 光学模型 | 第53-54页 |
| 5.1.1 光线吸收模型 | 第53页 |
| 5.1.2 光线发射模型 | 第53-54页 |
| 5.1.3 光线吸收和发射模型 | 第54页 |
| 5.2 光线投射法 | 第54-58页 |
| 5.2.1 坐标变换 | 第55-56页 |
| 5.2.2 光线投射重采样 | 第56-57页 |
| 5.2.3 图像合成 | 第57-58页 |
| 5.3 错切变形法 | 第58-67页 |
| 5.3.1 错切变换 | 第58-59页 |
| 5.3.2 错切变形法的基本原理和步骤 | 第59-60页 |
| 5.3.3 错切变形的具体过程 | 第60-67页 |
| 5.4 两种算法的比较 | 第67-70页 |
| 第六章 晶粒的定量分析 | 第70-76页 |
| 6.1 基于二维图像的晶粒定量分析 | 第70-72页 |
| 6.1.1 图像标记 | 第71-72页 |
| 6.1.2 特征提取 | 第72页 |
| 6.2 基于三维重构的晶粒定量分析 | 第72-73页 |
| 6.3 两种状态下晶粒的特征值比较 | 第73-76页 |
| 6.3.1 多个晶粒平均值的比较 | 第73页 |
| 6.3.2 单个晶粒特征值的比较 | 第73-76页 |
| 结论 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第82-84页 |
| 致谢 | 第84页 |
