| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-21页 |
| 1.1 课题的来源背景及研究意义 | 第10-11页 |
| 1.2 叠层薄片计数方法发展现状 | 第11-17页 |
| 1.2.1 物理计数方法 | 第12-13页 |
| 1.2.2 机械式计数方法 | 第13-16页 |
| 1.2.3 机器视觉计数方法 | 第16-17页 |
| 1.3 基于机器视觉的薄片检测算法综述 | 第17-19页 |
| 1.3.1 直线检测技术 | 第17-18页 |
| 1.3.2 图像拼接技术 | 第18-19页 |
| 1.4 本文的主要内容和结构安排 | 第19-21页 |
| 第2章 成像系统设计 | 第21-30页 |
| 2.1 待测薄片特点分析 | 第21-22页 |
| 2.2 成像系统设计 | 第22-24页 |
| 2.2.1 图像采集平台设计 | 第22-23页 |
| 2.2.2 硬件框架设计 | 第23-24页 |
| 2.3 系统器件选型 | 第24-29页 |
| 2.3.1 工业相机 | 第24-26页 |
| 2.3.2 镜头 | 第26-27页 |
| 2.3.3 光源 | 第27-28页 |
| 2.3.4 工控机 | 第28-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 薄片线检测算法 | 第30-41页 |
| 3.1 本章主要内容 | 第30页 |
| 3.2 现有的线检测算法 | 第30-32页 |
| 3.2.1 Radon变换线检测算法 | 第30-31页 |
| 3.2.2 相关性度量与频域相结合线检测算法 | 第31-32页 |
| 3.3 本文的线检测算法 | 第32-38页 |
| 3.3.1 薄片图像预处理 | 第33页 |
| 3.3.2 计算叠层薄片灰度剖面的曲率 | 第33-35页 |
| 3.3.3 检测叠层薄片的中心点 | 第35页 |
| 3.3.4 校正中心点 | 第35-36页 |
| 3.3.5 线检测结果 | 第36-38页 |
| 3.4 线检测算法之间的对比 | 第38-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 叠层薄片图像拼接与计数 | 第41-51页 |
| 4.1 叠层薄片图像拼接与计数方案设计 | 第41-42页 |
| 4.1.1 薄片图像成像特点分析 | 第41-42页 |
| 4.1.2 图像拼接与计数流程 | 第42页 |
| 4.2 图像拼接算法 | 第42-47页 |
| 4.2.1 相机标定及极线矫正原理 | 第42-45页 |
| 4.2.2 拼接位置确定 | 第45-47页 |
| 4.3 计数 | 第47-49页 |
| 4.4 实验与分析 | 第49-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 应用软件设计与仪器测试 | 第51-59页 |
| 5.1 客户需求和软件框架设计 | 第51-53页 |
| 5.1.1 客户需求 | 第51页 |
| 5.1.2 软件框架设计 | 第51-53页 |
| 5.2 软件实现 | 第53-57页 |
| 5.2.1 相机通讯模块 | 第53页 |
| 5.2.2 曝光选择设计 | 第53-54页 |
| 5.2.3 人机交互界面 | 第54-57页 |
| 5.3 仪器测试与结果分析 | 第57页 |
| 5.4 仪器应用和展览 | 第57-58页 |
| 5.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 总结与展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 附录 A 攻读学位期间发表的论文和参与的科研项目成果 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |