| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 引言 | 第11-17页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 闪烁体衰减时间定义 | 第12页 |
| 1.3 现有的闪烁体衰减时间测量方法 | 第12-15页 |
| 1.3.1 平均波形取样法 | 第13-14页 |
| 1.3.2 单光子计数法 | 第14页 |
| 1.3.3 直接模拟法 | 第14-15页 |
| 1.3.5 条纹相机法 | 第15页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 系统硬件设计 | 第17-39页 |
| 2.1 系统框架与工作原理 | 第17页 |
| 2.2 快速复合型电流前放设计 | 第17-20页 |
| 2.2.1 电流型前放的总体设计 | 第18页 |
| 2.2.2 放大电路设计 | 第18-20页 |
| 2.3 数据采集、处理模块设计 | 第20-28页 |
| 2.3.1 单端转差分电路设计 | 第20-22页 |
| 2.3.2 高速ADC电路 | 第22-25页 |
| 2.3.3 FPGA电路设计 | 第25-27页 |
| 2.3.4 高速USB电路 | 第27-28页 |
| 2.4 电源系统 | 第28-35页 |
| 2.4.1 电源芯片选型 | 第29-30页 |
| 2.4.2 电源电路设计 | 第30-34页 |
| 2.4.3 上电时序控制 | 第34-35页 |
| 2.5 ADC采样时钟设计 | 第35-39页 |
| 2.5.1 时钟抖动定义 | 第35页 |
| 2.5.2 时钟抖动对采集系统的影响 | 第35-39页 |
| 第3章 信号完整性分析与高速PCB设计 | 第39-44页 |
| 3.1 硬件系统信号完整性分析 | 第39-40页 |
| 3.2 系统PCB设计 | 第40-42页 |
| 3.3 PCB制板实物 | 第42-44页 |
| 第4章 软件程序设计 | 第44-54页 |
| 4.1 数据接收、处理程序设计 | 第44-50页 |
| 4.1.1 ADC工作模式配置 | 第44-45页 |
| 4.1.2 ADC数据接口设计 | 第45-47页 |
| 4.1.3 数据处理模块设计 | 第47-48页 |
| 4.1.4 HUSB接口协议设计 | 第48-50页 |
| 4.2 PC机端软件设计 | 第50-54页 |
| 第5章 系统性能评估及测试 | 第54-62页 |
| 5.1 电流型前置放大器性能评估 | 第54-56页 |
| 5.1.1 电流型前放脉冲响应时间测量 | 第54-55页 |
| 5.1.2 线性度测量 | 第55-56页 |
| 5.2 实际测试应用 | 第56-62页 |
| 5.2.1 LaBr3:0.5%Ce~(3+)闪烁体衰减时间测量 | 第56-58页 |
| 5.2.2 NaI闪烁体衰减时间测量 | 第58-59页 |
| 5.2.3 CsI闪烁体衰减时间测量 | 第59-60页 |
| 5.2.4 GAGG闪烁体衰减时间测量 | 第60-62页 |
| 结论 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第69页 |