面向AMOLED屏亮度均匀性的光学检测系统
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状与分析 | 第10-12页 |
| 1.3 本课题的主要研究内容 | 第12-14页 |
| 第2章 AMOLED屏MURA缺陷检测系统设计 | 第14-22页 |
| 2.1 AMOLED屏概述 | 第14-17页 |
| 2.1.1 AMOLED基本原理 | 第14页 |
| 2.1.2 AMOLED结构 | 第14-16页 |
| 2.1.3 AMOLED屏Mura缺陷 | 第16-17页 |
| 2.2 光学检测系统研究重点 | 第17-20页 |
| 2.2.1 硬件系统 | 第18-19页 |
| 2.2.2 图像处理算法分析 | 第19-20页 |
| 2.2.3 Mura缺陷量化与评价 | 第20页 |
| 2.3 Mura缺陷检测系统方案 | 第20-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 图像校正与背景纹理抑制 | 第22-41页 |
| 3.1 AMOLED图像畸变校正 | 第22-27页 |
| 3.1.1 图像畸变校正原理 | 第22-25页 |
| 3.1.2 图像畸变校正仿真 | 第25-27页 |
| 3.2 AMOLED图像倾斜纠正与目标提取 | 第27-35页 |
| 3.2.1 形态学图像处理 | 第27-29页 |
| 3.2.2 Harris角点检测 | 第29-31页 |
| 3.2.3 图像倾斜纠正与目标提取仿真 | 第31-35页 |
| 3.3 AMOLED屏图像背景纹理抑制 | 第35-40页 |
| 3.3.1 Gabor小波滤波器 | 第35-36页 |
| 3.3.2 图像背景纹理抑制仿真 | 第36-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 AMOLED屏MURA缺陷分割 | 第41-55页 |
| 4.1 Mura缺陷分割原理 | 第41-45页 |
| 4.1.1 均值漂移算法 | 第41-43页 |
| 4.1.2 水平集分割算法 | 第43-45页 |
| 4.2 Mura缺陷分割实现 | 第45-52页 |
| 4.2.1 改进的模型 | 第45-46页 |
| 4.2.2 仿真分析 | 第46-52页 |
| 4.3 缺陷量化与评价 | 第52-54页 |
| 4.3.1 缺陷量化方法 | 第52-53页 |
| 4.3.2 缺陷量化实验 | 第53-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
