| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| 1.1 研究背景 | 第7页 |
| 1.2 ZnO 概述 | 第7-12页 |
| 1.2.1 ZnO的基本物理化学特性 | 第8页 |
| 1.2.2 ZnO 的晶体结构 | 第8-10页 |
| 1.2.3 ZnO 的能带结构 | 第10页 |
| 1.2.4 ZnO的应用 | 第10-12页 |
| 1.3 稀土元素简介 | 第12-14页 |
| 1.3.1 稀土材料 | 第12页 |
| 1.3.2 稀土离子的电子结构 | 第12-13页 |
| 1.3.3 稀土离子的能级跃迁级光谱特性 | 第13-14页 |
| 1.4 本课题的主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第二章 ZnO薄膜的制备及表征 | 第15-20页 |
| 2.1 ZnO薄膜制备方法 | 第15-17页 |
| 2.1.1 溅射(Megenetron Sputtering) | 第15页 |
| 2.1.2 分子束外延(MBE) | 第15-16页 |
| 2.1.3 金属有机化合物气相沉积(MOCVD) | 第16页 |
| 2.1.4 脉冲激光法(PLD) | 第16-17页 |
| 2.2 ZnO薄膜的表征 | 第17-20页 |
| 2.2.1 X射线衍射分析 | 第17-18页 |
| 2.2.2 MDI Jade 5.0分析 | 第18-19页 |
| 2.2.3 光致发光谱(PL) | 第19-20页 |
| 第三章 ZnO薄膜的本征缺陷及对其性能的影响 | 第20-25页 |
| 3.1 引言 | 第20页 |
| 3.2 缺陷态的影响 | 第20-22页 |
| 3.2.1 ZnO呈自然n型导电性 | 第20-21页 |
| 3.2.2 本征缺陷对ZnO的光谱的影响 | 第21-22页 |
| 3.3 PLD法制备ZnO薄膜 | 第22-24页 |
| 3.3.1 样品制备及测试 | 第22页 |
| 3.3.2 检测方式及性质分析 | 第22-24页 |
| 3.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第四章 稀土Eu~（3+）离子掺杂ZnO薄膜的制备 | 第25-30页 |
| 4.1 引言 | 第25页 |
| 4.2 样品制备 | 第25页 |
| 4.3 结果分析 | 第25-29页 |
| 4.3.1 XRD分析 | 第25-26页 |
| 4.3.2 PL谱分析 | 第26-29页 |
| 4.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第五章 结论 | 第30-31页 |
| 参考文献 | 第31-34页 |
| 在校期间发表的学术论文 | 第34-35页 |
| 致谢 | 第35页 |